CN103163547B - 高能电子束流流强的测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明属于电子技术领域,具体涉及一种高能电子束流流强的测试系统。其技术方案是:脉冲束流打入法拉第筒中,并由模拟采样放大电路采集放大,电压/频率转换电路V/F把经过模拟采样放大电路输入的束流流强信号由模拟电压值转换成频率值,频率/数字转换电路F/D将电压/频率转换电路V/F输出的频率值转换成数字量,送给数据处理电路,数据处理电路进行运算后送给通信电路,通信电路再与显控计算机进行数据交换;显控计算机控制数据处理电路进行数据处理,同时接收通信电路送出的束流流强数据,并进行显示;本发明中实现对电子加速器出射束流流强的实时采集,并显示在计算机上,为设备的调试带来了极大的方便。
Description
技术领域
本发明属于电子技术领域,具体涉及一种高能电子束流流强的测试系统。
背景技术
在电子加速器中,输出流强是一个重要的技术指标,直接关系到加速器输出剂量率的大小,因此对束流流强的测试极其重要。
传统的束流流强测试方法采用法拉第筒直接测量的方法,但是由于电子加速器在发射束流的时候,束流能量高,剂量率大,会对人体造成很大的电离辐射损伤,因此通常采用波形记忆贮存的方法实施,对设备的调试带来的极大的不便。
发明内容
本发明的目的是:提供一种采用计算机技术和高精度小信号束流采集技术的系统,实现对电子加速器出射束流流强的实时采集,并显示在计算机上。
本发明的技术方案是:一种高能电子束流流强的测试系统,它包括:法拉第筒、模拟采样放大电路、电压/频率转换电路V/F、频率/数字转换电路F/D、数据处理电路、通信电路以及显控计算机;
脉冲束流打入所述法拉第筒中,并由所述模拟采样放大电路采集放大,所述电压/频率转换电路V/F把经过所述模拟采样放大电路输入的束流流强信号由模拟电压值转换成频率值,所述频率/数字转换电路F/D将所述电压/频率转换电路V/F输出的频率值转换成数字量,送给所述数据处理电路,所述数据处理电路进行运算后送给所述通信电路,所述通信电路再与所述显控计算机进行数据交换;
所述显控计算机控制所述数据处理电路进行数据处理,同时接收所述通信电路送出的束流流强数据,并进行显示;
所述模拟采样放大电路的连接关系为:运算放大器N1的正输入端一方面接束流输入,一方面通过并联的电容C2、电阻R1接地,运算放大器N1的负输入端与所述运算放大器N1的输出端连接,运算放大器N1的7脚接+15V,5脚与1脚间接入可调电阻RP3,4脚接可调电阻RP3的滑动端,8脚接稳压二极管V3,稳压二极管V3的正极接地,运算放大器N1的输出端连接电容C4后,一方面通过电阻R5接地,一方面通过电阻R3接入运算放大器N3的负输入端,另一方面通过电阻R12接入运算放大器N2的负输入端,运算放大器N1的输出端与电容C4之间通过电容C1接地;运算放大器N3的正输入端一方面通过电阻R4接入运算放大器N3的负输入端,另一方面接地,运算放大器N3的7脚接+15V,4脚接-15V,8脚接入5脚后连接可调电阻RP1的一端,可调电阻RP1的另一端接入运算放大器N3的1脚,可调电阻RP1的滑动端接+15V,运算放大器N3的2脚与输出端之间接入二极管V1,其中2脚连接二极管V1的负极,输出端连接二极管V1的正极,运算放大器N3的输出端通过二极管V2、电阻R12接入运算放大器N2的负输入端,运算放大器N2的正输入端通过电阻R13接地,运算放大器N2的7脚接+15V,4脚接-15V,5脚与8脚接可调电阻RP2,可调电阻RP2的滑动端接入运算放大器N2的4脚,运算放大器N2的负输入端与输出端之间接入电容C10,电容C10与放电开关S1并联,运算放大器N2的输出端输出放大后的束流;
所述电压/频率转换电路V/F的连接关系为:AD652芯片U1的7脚接输入的电压信号VIN1,10脚接输入的CLK信号,8脚接-12V,6脚接地,5脚通过电容C17接入4脚,4脚接入14脚,1脚接+12V,15脚接16脚,9脚接+12V,12脚接DGND,13脚接地,11脚一方面通过并联的电阻R82、电容C71接+5V,另一方面接入75110芯片U2的1脚与2脚;75110芯片U2的3脚一方面通过电阻R17接+5V,另一方面与75110芯片U2的10脚连接,75110芯片U2的4脚、5脚、6脚、7脚接地,11脚接-5V,14脚接+5V,13脚一方面通过电阻R80接DGND,一方面通过电容C61接地,另一方面输出频率信号,12脚一方面通过电阻R8接地,一方面通过电容C62接地,另一方面输出频率信号;
所述频率/数字转换电路F/D由74HC590芯片D23、74HC590芯片D24以及一个时序脉冲产生电路组成,74HC590芯片D23的11脚与74HC590芯片D24的11脚接频率信号输入,74HC590芯片D23的14脚与74HC590芯片D24的14脚接入所述显控计算机,由所述显控计算机选择芯片输入,74HC590芯片D23的13脚接入12脚,9脚接入74HC590芯片D24的12脚;时序脉冲产生电路的连接方式为:74HC74芯片D12B的10脚与13脚接入VCC,11脚接时钟输入,12脚接8脚,9脚接4020芯片D15的10脚,4020芯片D15的11脚连接电阻R5后,一方面接入74HC08芯片D9C的8脚,另一方面接入74HC14芯片D17C的5脚,4020芯片D15的9脚一方面连接74HC08芯片D9C的9脚,另一方面接入74HC14芯片D17B的3脚,4020芯片D15的2脚一方面接入74HC08芯片D9C的10脚,另一方面接入74HC08芯片D9B的5脚;74HC14芯片D17B的4脚接入74HC08芯片D9B的4脚;74HC08芯片D9B的6脚一方面通过电容C15接地,另一方面分别接入74HC590芯片D23的13脚与74HC590芯片D24的13脚;74HC14芯片D17C的6脚一方面通过电容C16接地,另一方面分别接入74HC590芯片D23的10脚与74HC590芯片D24的10脚。
有益效果:(1)本发明中提出了一种利用计算机技术和高精度小信号束流采集技术的方法,实现对电子加速器出射束流流强的实时采集,并显示在计算机上,为设备的调试带来了极大的方便。
(2)模拟采集放大电路采用了脉冲放大电路,确保采集束流的正确性。
(3)考虑信号的远距传输和抗干扰能力,本发明中模拟/数字转换电路采用了V/F,而不直接采用A/D的方式进行。
附图说明
图1为本发明的原理框图;
图2为本发明中模拟采样放大电路连接示意图;
图3为本发明中电压/频率转换电路V/F连接示意图;
图4为本发明中频率/数字转换电路F/D连接示意图;
图5为本发明中模拟采样放大电路信号转换示意图。
具体实施方式
参见附图1,一种高能电子束流流强的测试系统,它包括:法拉第筒、模拟采样放大电路、电压/频率转换电路V/F、频率/数字转换电路F/D、数据处理电路、通信电路以及显控计算机;
脉冲束流打入所述法拉第筒中,并由所述模拟采样放大电路采集放大,所述电压/频率转换电路V/F把经过所述模拟采样放大电路输入的束流流强信号由模拟电压值转换成频率值,所述频率/数字转换电路F/D将所述电压/频率转换电路V/F输出的频率值转换成数字量,送给所述数据处理电路,所述数据处理电路进行运算后送给所述通信电路,所述通信电路再与所述显控计算机进行数据交换;
所述显控计算机控制所述数据处理电路进行数据处理,同时接收所述通信电路送出的束流流强数据,并进行显示;
参见附图2,所述模拟采样放大电路的连接关系为:运算放大器N1的正输入端一方面接束流输入,一方面通过并联的电容C2、电阻R1接地,运算放大器N1的负输入端与所述运算放大器N1的输出端连接,运算放大器N1的7脚接+15V,5脚与1脚间接入可调电阻RP3,4脚接可调电阻RP3的滑动端,8脚接稳压二极管V3,稳压二极管V3的正极接地,运算放大器N1的输出端连接电容C4后,一方面通过电阻R5接地,一方面通过电阻R3接入运算放大器N3的负输入端,另一方面通过电阻R12接入运算放大器N2的负输入端,运算放大器N1的输出端与电容C4之间通过电容C1接地;运算放大器N3的正输入端一方面通过电阻R4接入运算放大器N3的负输入端,另一方面接地,运算放大器N3的7脚接+15V,4脚接-15V,8脚接入5脚后连接可调电阻RP1的一端,可调电阻RP1的另一端接入运算放大器N3的1脚,可调电阻RP1的滑动端接+15V,运算放大器N3的2脚与输出端之间接入二极管V1,其中2脚连接二极管V1的负极,输出端连接二极管V1的正极,运算放大器N3的输出端通过二极管V2、电阻R12接入运算放大器N2的负输入端,运算放大器N2的正输入端通过电阻R13接地,运算放大器N2的7脚接+15V,4脚接-15V,5脚与8脚接可调电阻RP2,可调电阻RP2的滑动端接入运算放大器N2的4脚,运算放大器N2的负输入端与输出端之间接入电容C10,电容C10与放电开关S1并联,运算放大器N2的输出端输出放大后的束流;
从法拉第筒收集的脉冲束流经电阻R1流向大地,由此在电阻R1上产生了一个脉冲电压,该脉冲电压首先经过运算放大器N1组成的射随器,然后进入由运算放大器N3构成脉冲放大电路,脉冲放大电路具备隔直的功能,随后进入由运算放大器N2组成脉冲采样放大保持电路;在未考虑信号的延迟和脉冲抖动等方面的因素的情况下的模拟采样放大电路的信号转换示意图如图5所示;
参见附图3,所述电压/频率转换电路V/F的连接关系为:AD652芯片U1的7脚接输入的电压信号VIN1,10脚接输入的CLK信号,8脚接-12V,6脚接地,5脚通过电容C17接入4脚,4脚接入14脚,1脚接+12V,15脚接16脚,9脚接+12V,12脚接DGND,13脚接地,11脚一方面通过并联的电阻R82、电容C71接+5V,另一方面接入75110芯片U2的1脚与2脚;75110芯片U2的3脚一方面通过电阻R17接+5V,另一方面与75110芯片U2的10脚连接,75110芯片U2的4脚、5脚、6脚、7脚接地,11脚接-5V,14脚接+5V,13脚一方面通过电阻R80接DGND,一方面通过电容C61接地,另一方面输出频率信号,12脚一方面通过电阻R8接地,一方面通过电容C62接地,另一方面输出频率信号;
AD652芯片U1为V/F转换芯片,它把输入的电压信号VIN1,转换成频率信号,转换的频率信号最高值由输入的CLK信号决定,转换后的频率信号经过差分放大后输出;
参见附图4,所述频率/数字转换电路F/D由74HC590芯片D23、74HC590芯片D24以及一个时序脉冲产生电路组成,74HC590芯片D23的11脚与74HC590芯片D24的11脚接频率信号输入,4HC590芯片D23的14脚与74HC590芯片D24的14脚接入所述显控计算机,由所述显控计算机选择芯片输入,74HC590芯片D23的13脚接入12脚,9脚接入74HC590芯片D24的12脚;时序脉冲产生电路的连接方式为:74HC74芯片D12B的10脚与13脚接入VCC,11脚接时钟输入,12脚接8脚,9脚接4020芯片D15的10脚,4020芯片D15的11脚连接电阻R5后,一方面接入74HC08芯片D9C的8脚,另一方面接入74HC14芯片D17C的5脚,4020芯片D15的9脚一方面连接74HC08芯片D9C的9脚,另一方面接入74HC14芯片D17B的3脚,4020芯片D15的2脚一方面接入74HC08芯片D9C的10脚,另一方面接入74HC08芯片D9B的5脚;74HC14芯片D17B的4脚接入74HC08芯片D9B的4脚;74HC08芯片D9B的6脚一方面通过电容C15接地,另一方面分别接入74HC590芯片D23的13脚与74HC590芯片D24的13脚;74HC14芯片D17C的6脚一方面通过电容C16接地,另一方面分别接入74HC590芯片D23的10脚与74HC590芯片D24的10脚;
频率/数字转换电路F/D为一个最高可以到16位的F/D转换电路,其中芯片D12、D15、D17、D9组成F/D时序脉冲发生电路,主要用以产生电路所需的计数脉冲和清零脉冲,供转换电路使用,输入的芯片选择1输入和芯片选择2输入由计算机控制,通过数据总线读取转换的数据;
转换的频率上限由“时钟输入”确定,D23和D24的74HC590芯片组成了F/D转换电路,它把“频率信号输入”转换成8位数字信号,经过数字处理电路与通信电路后由计算机控制进行读取。其中,通信电路可以采用串行口数据传送、网络通信等多种数据传送方法进行。法拉第筒作为束流收集的部件使用,该部件为一个导体,其横断面应该能够覆盖出射束流,以确保能收集绝大多数的电子束流;在较大束流收集的情况下,法拉第筒会出现过热的现象,应该采取必要的冷却措施,保证束流的顺利采集。
Claims (3)
1.一种高能电子束流流强的测试系统,其特征是,它包括:法拉第筒、模拟采样放大电路、电压/频率转换电路V/F、频率/数字转换电路F/D、数据处理电路、通信电路以及显控计算机;
脉冲束流打入所述法拉第筒中,并由所述模拟采样放大电路采集放大,所述电压/频率转换电路V/F把经过所述模拟采样放大电路输入的束流流强信号由模拟电压值转换成频率值,所述频率/数字转换电路F/D将所述电压/频率转换电路V/F输出的频率值转换成数字量,送给所述数据处理电路,所述数据处理电路进行运算后送给所述通信电路,所述通信电路再与所述显控计算机进行数据交换;
所述显控计算机控制所述数据处理电路进行数据处理,同时接收所述通信电路送出的束流流强数据,并进行显示;
所述模拟采样放大电路的连接关系为:运算放大器N1的正输入端一方面接束流输入,一方面通过并联的电容C2、电阻R1接地,运算放大器N1的负输入端与所述运算放大器N1的输出端连接,运算放大器N1的7脚接+15V,5脚与1脚间接入可调电阻RP3,4脚接可调电阻RP3的滑动端,8脚接稳压二极管V3,稳压二极管V3的正极接地,运算放大器N1的输出端连接电容C4后,一方面通过电阻R5接地,一方面通过电阻R3接入运算放大器N3的负输入端,另一方面通过电阻R12接入运算放大器N2的负输入端,运算放大器N1的输出端与电容C4之间通过电容C1接地;运算放大器N3的正输入端一方面通过电阻R4接入运算放大器N3的负输入端,另一方面接地,运算放大器N3的7脚接+15V,4脚接-15V,8脚接入5脚后连接可调电阻RP1的一端,可调电阻RP1的另一端接入运算放大器N3的1脚,可调电阻RP1的滑动端接+15V,运算放大器N3的2脚与输出端之间接入二极管V1,其中2脚连接二极管V1的负极,输出端连接二极管V1的正极,运算放大器N3的输出端通过二极管V2、电阻R12接入运算放大器N2的负输入端,运算放大器N2的正输入端通过电阻R13接地,运算放大器N2的7脚接+15V,4脚接-15V,5脚与8脚接可调电阻RP2,可调电阻RP2的滑动端接入运算放大器N2的4脚,运算放大器N2的负输入端与输出端之间接入电容C10,电容C10与放电开关S1并联,运算放大器N2的输出端输出放大后的束流;
所述电压/频率转换电路V/F的连接关系为:AD652芯片U1的7脚接输入的电压信号VIN1,10脚接输入的CLK信号,8脚接-12V,6脚接地,5脚通过电容C17接入4脚,4脚接入14脚,1脚接+12V,15脚接16脚,9脚接+12V,12脚接DGND,13脚接地,11脚一方面通过并联的电阻R82、电容C71接+5V,另一方面接入75110芯片U2的1脚与2脚;75110芯片U2的3脚一方面通过电阻R17接+5V,另一方面与75110芯片U2的10脚连接,75110芯片U2的4脚、5脚、6脚、7脚接地,11脚接-5V,14脚接+5V,13脚一方面通过电阻R80接DGND,一方面通过电容C61接地,另一方面输出频率信号,12脚一方面通过电阻R8接地,一方面通过电容C62接地,另一方面输出频率信号;
所述频率/数字转换电路F/D由74HC590芯片D23、74HC590芯片D24以及一个时序脉冲产生电路组成,74HC590芯片D23的11脚与74HC590芯片D24的11脚接频率信号输入,74HC590芯片D23的14脚与74HC590芯片D24的14脚接入所述显控计算机,由所述显控计算机选择芯片输入,74HC590芯片D23的13脚接入12脚,9脚接入74HC590芯片D24的12脚;时序脉冲产生电路的连接方式为:74HC74芯片D12B的10脚与13脚接入VCC,11脚接时钟输入,12脚接8脚,9脚接4020芯片D15的10脚,4020芯片D15的11脚连接电阻R5后,一方面接入74HC08芯片D9C的8脚,另一方面接入74HC14芯片D17C的5脚,4020芯片D15的9脚一方面连接74HC08芯片D9C的9脚,另一方面接入74HC14芯片D17B的3脚,4020芯片D15的2脚一方面接入74HC08芯片D9C的10脚,另一方面接入74HC08芯片D9B的5脚;74HC14芯片D17B的4脚接入74HC08芯片D9B的4脚;74HC08芯片D9B的6脚一方面通过电容C15接地,另一方面分别接入74HC590芯片D23的13脚与74HC590芯片D24的13脚;74HC14芯片D17C的6脚一方面通过电容C16接地,另一方面分别接入74HC590芯片D23的10脚与74HC590芯片D24的10脚。
2.如权利要求1所述的一种高能电子束流流强的测试系统,其特征是,对所述法拉第筒增加冷却装置。
3.如权利要求1或2所述的一种高能电子束流流强的测试系统,其特征是,所述通信电路采用串行口数据传送或网络通信进行数据传递。
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PB01 | Publication | ||
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C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |