CN103018257B - 光纤接口的检测方法及检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种对光纤设备的检测方法及检测装置。一种光纤接口的检测方法，包括以下步骤：A、将跳线的第一接口与光纤接口表面连接并将跳线的第二接口与分光器连接；B、光源通过分光器进而通过跳线向光纤接口表面传送光线；C、光功率计测量光纤接口表面反射并经跳线传输进而由分光器分光的反射光功率；D、将测得的反射光功率值与设定值比较，如果大于设定值，则判定光纤接口表面被污染，如果小于设定值，则判定光纤接口表面良好。本发明公布的检测方法和检测装置，能够检测光纤接口的异常情况。

Description

光纤接口的检测方法及检测装置
技术领域
本发明涉及一种光纤检测方法及检测装置，特别涉及一种光纤接口的检测方法和检测装置。
背景技术
光纤设备是一种敏感性很高的设备，光纤设备中一个很小的部件出现故障，都会造成整个光纤设备不能正常工作，因此，在光纤连接之前，通常要对光纤接口进行检测，光纤包括两层，分别是覆层和芯部，覆层是以玻璃层包裹着芯部，以防止芯层中的信号流失。芯部是光纤的关键部件，光线完全通过内部反射在光纤的芯部传播或者停留。光纤接口的末端包括三个主要的区域，芯部、覆层和套筒，在光纤接口的末端表面上，有可能存在颗粒物，颗粒离芯部越近，对光纤的影响越大。光纤接口技术中有三个基础的技术问题，分别是：1、精准的中心对准；2、物理上的匹配；3、纯净的光纤接口表面；现有技术中，光纤技术最大的挑战来自于如何保证纯净的光纤接口表面，因为，如果颗粒物进入光纤芯部之中，会引起光纤反射，甚至损坏光纤设备。一般情况下，尘土粒子的平均直径为2到5μm。这样大小的粒子，人通过肉眼是无法识别的。
新的光纤接口表面都可能是被污染了的，防尘帽可以保护光纤接口的表面免于被污染，但是防尘帽也可能成为污染的来源。
现有技术中，为了检测光纤接口表面并清洁表面，通常用探针显微镜检测接口表面是否干净，如果有污点，则进行清洗，之后再用探针显微镜检测，确认清洁后再连接光纤接口。这样做虽然保证了光纤接口的清洁，但是，一个光纤接口就需要人工进行反复的插接，检测，清洁，检测工序，大大增加了工作量，降低了光纤接口的生产效率。亟待提供一种能更高效地进行光纤接口检测的方法和相应的装置。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种光纤接口的检测方法和检测装置，实现对光纤接口表面进行检测，同时提高对光纤接口检测的效率。为了实现上述发明目的，本发明的技术方案是：
一种光纤接口的检测方法，包括以下步骤：A、将跳线的第一接口与光纤接口表面连接并将跳线的第二接口与分光器连接；B、光源通过分光器进而通过跳线向光纤接口表面传送光线；C、光功率计测量光纤接口表面反射并经跳线传输进而由分光器分光的反射光功率；D、将测得的反射光功率值与设定值比较，如果大于设定值，则判定光纤接口表面被污染，如果小于设定值，则判定光纤接口表面良好。
一种光纤接口的检测装置，其特征在于，所述光纤接口的检测装置包括：光纤接口表面、跳线、光源、分光器和光功率计；
光纤接口表面与跳线的第一接口连接，分光器与跳线的第二接口连接，分光器分别与光功率计和光源连接；
光源发出的光线经分光器分光并经跳线传输给光纤接口表面并产生反射光，反射光经跳线传输并由分光器分光后传送给光功率计测量反射光功率。
假设P1是光源功率、P2是通光功率、PBR是反射光的功率、PR是光纤接口处损失的光功率；那么PBR=P1-P2-PR,进一步得到P1=P2+PBR+PR;由于光纤接口处损失的光功率PR和光源功率P1一般是恒定的，那么，通光功率P2越大，说明反射光功率PBR越小，被反射的光功率小，也从侧面说明了光纤接口的性能良好；反之，如果反射光功率PBR越大，则说明通光功率P2越小，更多的光被反射回来，光纤接口可能存在某种障碍，例如污点、油污或者弯折的情形。
通常情形下，由于通光功率的检测实现难度高，那么通过对反射光的功率PBR进行检测，能够起到对光纤接口的检测作用，进而为排查故障提供方便。
所述设定值与光源功率成正比。
光源功率越大，意味着光源通过分光器进而通过跳线传送到光纤接口表面的光线越多，在相同情况下，反射回的光功率值也就越大，因此，设定固定的设定值是不合理的。应该随光源功率的改变设定一个与其成正比的设定值。
所述光纤接口的检测装置还包括光学开关，所述光学开关一端与跳线连接，另一端与分光器连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果：
一、通过对光纤接口表面反射的光功率检测，高效率的检测光纤接口表面是否清洁。
二、减少人为插拔接口的次数也就降低了对模块端口的损坏及二次导入污染物的可能性。
附图说明
图1是本发明一种实施方式的结构框图；
图2是本发明另一种实施方式的结构框图；以及
图中标记：1-光纤接口表面；2-跳线；3-分光器；4-光源；5-光功率计；6-光学开关；7-测试系统。
具体实施方式
下面结合试验例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。
本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种光纤接口的检测方法和检测装置，实现对光纤接口检测并进一步发现问题后排除故障。为了实现上述发明目的，本发明的技术方案是：
一种光纤接口的检测方法，包括以下步骤：A、将跳线的第一接口与光纤接口表面连接并将跳线的第二接口与分光器连接；B、光源通过分光器进而通过跳线向光纤接口表面传送光线；C、光功率计测量光纤接口表面反射并经跳线传输进而由分光器分光的反射光功率；D、将测得的反射光功率值与设定值比较，如果大于设定值，则判定光纤接口表面被污染，如果小于设定值，则判定光纤接口表面良好。
一种光纤接口的检测装置，所述光纤接口的检测装置包括：光纤接口表面、跳线、光源、分光器和光功率计；
光纤接口表面与跳线的第一接口连接，分光器与跳线的第二接口连接，分光器分别与光功率计和光源连接；
光源发出的光线经分光器分光并经跳线传输给光纤接口表面并产生反射光，反射光经跳线传输并由分光器分光后传送给光功率计测量反射光功率。
在上述的方法以及装置中，假设P1是光源发出的光功率、P2是光纤传送到光纤接口表面后并通过光纤接口通光功率、PBR是传送到光纤接口表面并被反射的反射光的功率、PR是光纤接口处损失的光功率；
下面，描述一下工作的流程，光源发出光功率为P1的光线，经过分光器分光并通过跳线传送到光纤接口表面，在光纤接口表面，一部分功率为P2光线的通过，另一部分功率为PBR的光线被反射回去并被光功率计测量并记录下来，在传输过程中，功率为PR的光线的功率在光纤接口处损失。那么PBR=P1-P2-PR,进一步得到P1=P2+PBR+PR;由于在光纤接口处损失的光功率PR和光源功率P1一般是恒定的，那么，通光功率P2越大，说明反射光功率PBR越小，被反射的光功率小，也从侧面说明了光纤接口的性能良好；反之，如果反射光功率PBR越大，则说明通光功率P2越小，更多的光被反射回来，光纤接口可能存在某种障碍，例如污点、油污或者弯折的情形。通常情形下，由于通光功率的检测实现难度高，那么通过对反射光的功率PBF进行检测，能够起到对光纤接口的检测作用，进而为排查故障提供方便。
实施例1
如图1所示的一种光纤接口的检测装置，所述光纤接口的检测装置包括：光纤接口表面1、跳线2、光源4、分光器3和光功率计5；
光纤接口表面1与跳线2的第一接口连接，分光器3与跳线2的第二接口连接，分光器3分别与光功率计5和光源4连接；
光源4发出的光线经分光器3分光并经跳线2传输给光纤接口表面1并产生反射光，反射光经跳线2传输并由分光器3分光后传送给光功率计5测量反射光功率。
实施例2
如图2所示，在前一实施例的基础上，本实施例的不同之处在于，跳线2的下游连接光学开关6，光学开关6一端与分光器3连接，另一端与测试系统7连接，它的工作原理是，当需要对光纤接口表面1的光反射情况进行测量时，光学开关6与分光器3连接的一端打开，与测试系统7连接的一端关闭；当对光纤接口表面1的光反射情况测量完毕后，需要进行其他的测试，则与光学开关6与分光器3连接的一端关闭，与测试系统7连接的一端开启，在这里光学开关6用于切换与分光器3的连接或者与测试系统7的连接，以实现不同的测试功能。
虽然已对本发明的具体实施方式进行了图示和说明，但并非意味用上述实施方式的图示和说明表征本发明所有可能的形式，更确切的，说明书中所用到的词语是说明性的而非限定性的，并且能够理解，可以对本发明进行诸多改变而不背离本发明的精神和范围。

Claims (4)

1.一种光纤接口的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：A、将跳线的第一接口与光纤接口表面连接并将跳线的第二接口与分光器连接；B、光源通过分光器进而通过跳线向光纤接口表面传送光线；C、光功率计测量光纤接口表面反射并经跳线传输进而由分光器分光的反射光功率；D、将测得的反射光功率值与设定值比较，如果大于设定值，则判定光纤接口表面被污染，如果小于设定值，则判定光纤接口表面良好。
2.如权利要求1所述的光纤接口的检测方法，其特征在于，所述设定值与光源功率成正比。
3.一种光纤接口的检测装置，其特征在于，所述光纤接口的检测装置包括：光纤接口表面、跳线、光源、分光器和光功率计；
光纤接口表面与跳线的第一接口连接，分光器与跳线的第二接口连接，分光器分别与光功率计和光源连接；
光源发出的光线经分光器分光并经跳线传输给光纤接口表面并产生反射光，反射光经跳线传输并由分光器分光后传送给光功率计测量反射光功率。
4.如权利要求3所述的光纤接口的检测装置，其特征在于，所述光纤接口的检测装置还包括光学开关，所述光学开关一端与跳线连接，另一端与分光器连接。
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