CN102332894A - 数字滤波器 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种数字滤波器,其和前级的模拟部中的模拟运算动作的匹配性良好,对于模拟部的输出能在噪声位置形成陷波,从而改善噪声除去性能。该数字滤波器(1)在前级配置有模拟运算结果的比特数据输出按每N个时钟而发生变化的模拟部(2),并且以和所述模拟部(2)同步的时钟进行动作,从所述模拟部(2)输出的比特数据中除去噪声,该数字滤波器(1)构成为具备:Sinc N阶滤波器(11),其将提取采样的移动平均的Sinc滤波器级联为N级而形成;和K抽头数的移动平均滤波器(12),其连接于Sinc N阶滤波器(11)的输出级。

Description

数字滤波器
技术领域
本发明涉及将提取采样的移动平均的Sinc滤波器进行多级级联而形成的数字滤波器。
背景技术
现有的Δ∑型AD变换器的前级配置有进行模拟运算的模拟部,后级配置有从模拟部所输出的比特流中除去不需要的频率分量(噪声)的数字滤波器。一般,作为数字滤波器,使用将Sinc滤波器构成为N级的Sinc N阶滤波器。
另一方面,作为构成模拟部的电路的1个,有检测微小的静电电容的变化并变换为数字信号来取入的电容检测装置(例如参照专利文献1)。相关的电容检测装置和Δ∑型AD变换器相同,具备对静电电容的变化量进行积分后实施2值化的模拟部、和除去包含于模拟部所输出的比特列中的噪声分量并且多比特化的数字滤波器。考虑将该数字滤波器应用于SincN阶滤波器。
专利文献
专利文献1:JP特开2006-253764号公报
但是,在使用Sinc N阶滤波器来构成数字滤波器的情况下,根据在前级的模拟部中直到输出模拟运算结果所需要的时钟数不同,将与后级的Sinc N阶滤波器的动作的匹配性会变差,并且,在成为不需要的频率分量的噪声位置,并不一定能形成陷波(notch),因此,存在不能充分地衰减噪声的问题。
发明内容
本发明鉴于上述点而提出,目的在于提供一种与前级的模拟部中的模拟运算动作的匹配性良好且对于模拟部的输出,能在噪声位置形成陷波,从而改善了噪声除去性能这样的数字滤波器。
本发明的数字滤波器特征为:在前级配置有模拟运算结果的比特数据输出按每N个时钟而发生变化的模拟部,以和所述模拟部同步的时钟进行动作,从所述模拟部输出的比特数据中除去噪声,具备如下结构而构成:Sinc N阶滤波器,其将提取采样的移动平均的Sinc滤波器级联为N级而形成;和K抽头数的移动平均滤波器,其连接于所述Sinc N阶滤波器的输出级。
根据该构成,配置于前级的模拟部中的模拟运算动作和数字滤波器中的Sinc滤波器的级数以及移动平均滤波器的抽头数匹配,并且,能通过Sinc滤波器的级数以及移动平均滤波器的抽头数来在期望位置形成陷波,能在前级的模拟部的噪声通过带形成陷波,从而能改善噪声耐性。
在上述的数字滤波器中,特征在于,所述Sinc N阶滤波器具备:脉冲响应生成器,其生成所述数字滤波器的脉冲响应;积运算处理部,其求取从所述模拟部输入的比特数据和由所述脉冲响应生成器生成的脉冲响应的积;加法器,其将从所述积运算处理部输出的本次的积和1个时钟前从所述积运算处理部输出的前次的积相加;和双稳态多谐振荡器,其将所述加法器的加法运算结果延迟1个时钟之后提供给所述加法器。
根据该构成,利用脉冲响应生成器生成脉冲响应,由于将从模拟部输入的比特数据和脉冲响应相乘来进行滤波,因此,与用延迟单元构成Sinc滤波器的情况相比,能够缩减电路规模。
在上述的数字滤波器中,特征在于,所述脉冲响应生成器具备:3次微分生成器,其生成所述数字滤波器的脉冲响应的3次微分值;和3个积分器,其串联连接于所述3次微分生成器的输出级。
根据该构成,虽然也能使用表格等来安装数字滤波器的脉冲响应,但实现较长的抽头数的滤波器时的电路规模会变得非常大。若将数字滤波器的脉冲响应三次微分,则通过着眼于成为具有某法则的值,活用其特性来硬件化,可实现小规模的电路。
在上述的数字滤波器中,特征在于,所述Sinc N阶滤波器是将抽头数为M的Sinc滤波器级联为4级而构成的,所述移动平均滤波器由抽头数为4的移动平均滤波器构成,作为所述模拟运算,所述模拟部按每4个时钟进行1次积分,并在相对于采样频率fs的fs/2处具有噪声通过域。
根据该构成,能相对于模拟部,实现具有在fs/2处形成有陷波的频率特性的数字滤波器,该模拟部在相对于采样频率fs的fs/2处具有噪声通过域。
根据本发明,和前级的模拟部中的模拟运算动作的匹配性良好,能相对于模拟部的输出在噪声位置形成陷波,能改善噪声除去性能。
附图说明
图1是本发明的一个实施方式的数字滤波器的构成图。
图2是利用了脉冲响应生成器的实施方式的数字滤波器的构成图。
图3是脉冲响应生成器的构成图。
图4A是表示本发明的一个实施方式的数字滤波器的滤波器频率特性的图。
图4B是表示成为比较例的Sinc 4阶滤波器的滤波器频率特性的图。
图5是电容检测装置的构成图。
图6是电容检测装置中的十字开关(cross switch)的连接切换定时的图。
图7是其它的电容检测装置的构成图。
图8是其它的电容检测装置中的十字开关的连接切换定时的图。
(附图标记说明)
1数字滤波器
2模拟部
11Sinc 4阶滤波器
12移动平均滤波器(4抽头)
13a、13b、13c延迟单元
14加法器
21脉冲响应生成器
22积运算处理部
23加法部
24双稳态多谐振荡器
313次微分生成器
31a 3次微分表
32、34、36加法器
33、35、37延迟单元
具体实施方式
下面,参照附图来详细说明本发明的实施方式。
图1是本发明的一个实施方式的数字滤波器的构成图。本实施方式的数字滤波器1由将提取采样的移动平均的Sinc滤波器级联为4级而形成的Sinc 4阶滤波器11、和连接于Sinc 4阶滤波器11的后级的抽头数为K的移动平均滤波器12构成。虽然在本例中,移动平均滤波器12的抽头数和Sinc N阶滤波器的阶数一致,但如后述,以与希望的陷波位置的关系来决定任意的数即可。数字滤波器1的前级连接有模拟部2。
Sinc 4阶滤波器11能够将各个由抽头数M的移动平均滤波器构成的Sinc滤波器级联为4级而构成。在本实施方式中,为了谋求电路规模的小型化,采用其中利用后述的脉冲响应生成器来实现和将Sinc滤波器级联为4级的电路同等功能的电路构成。
移动平均滤波器12是抽头数=4的移动平均滤波器,由串联连接的3个延迟单元13a、13b、13c、和将对输入级的延迟单元13a的输入以及各延迟单元13a、13b、13c的输出相加的加法器14构成。移动平均滤波器12的抽头数配合期望的陷波位置而设定。在相对于Sinc 4阶滤波器11而设移动平均滤波器12的抽头数为4的情况下,能在采样频率fs的1/4、1/2、3/4的位置形成陷波。
模拟部2按规定的时钟数进行模拟运算(例如模拟积分运算),并使模拟运算结果成为比特数据来输出。在本实施方式中,每4个时钟执行1次积分运算,将其积分运算结果经由比较器变换为2比特并输出。即,在模拟部2的输出发生变化的定时、Sinc 4阶滤波器11的动作定时(4级构成)、以及移动平均滤波器12的抽头数(=4)之间取得了匹配性。
本实施方式的数字滤波器1从由模拟部2所输出的2值的比特流中输出与规定的检测量对应的数字值并且通过滤波器功能来谋求噪声的抑制。
图2是利用脉冲响应生成器来构成数字滤波器1的构成例的图。图2所述的数字滤波器1具备如下结构而构成:脉冲响应生成器21;积运算处理部22,其运算由脉冲响应生成器21所生成的脉冲响应和从模拟部2提供的比特流数据之间的积;加法部23,其将1个采样前的积运算结果和本次的积运算结果相加;和双稳态多谐振荡器24,其使加法部23的输出和采样时钟同步,并使其延迟1个时钟。
在此,虽然也能使用表格等来安装数字滤波器的脉冲响应,但实现较长的抽头数的滤波器时的电路规模会变得非常大。若将本实施方式的数字滤波器1(Sinc 4阶滤波器11和抽头数4的移动平均滤波器12的组合)的脉冲响应进行三次微分,则通过着眼于成为具有某法则的值,活用其特性来进行硬件化,实现小规模的电路。
图3是脉冲响应生成器21的构成图。3次微分生成器31具备登录有数字滤波器1的脉冲响应的3次微分值的3次微分表31a。在3次微分表31a中对应于索引(0~4M-4)而分别设定有3次微分值。M是Sinc滤波器每一级的抽头数。3次微分生成器31的输出级和3个积分器串联连接。各积分器由加法器(32、34、36)和延迟单元(33、35、37)构成。如此,通过对脉冲响应的3次微分值进行3次积分,生成了原始的脉冲响应。
图4A表示上述数字滤波器1的滤波器频率特性,图4B仅表示Sinc 4阶滤波器11的滤波器频率特性。图4A、图4B都表示到采样频率fs的1/2位置的频率范围。
如图4A所示,本实施方式的数字滤波器1的滤波器频率特性在采样频率fs的1/4、1/2的位置形成陷波。在模拟部2位于采样频率fs的1/4或1/2位置具有噪声通过带的情况下,能在数字滤波器1中除去噪声。
另外,Sinc 4阶滤波器11的滤波器特性如图4B所示,没有在需要的位置(例如采样频率fs的1/4或1/2位置)形成陷波。因此,和数字滤波器1相比,有噪声耐性较低、导致精度劣化的可能性。
接下来,对于每4个时钟执行1次积分运算,将该积分运算结果经由比较器变换为2比特并输出,在采样频率fs的1/2位置具有噪声通过带的模拟部2的具体例进行说明。作为相关的模拟部2,有检测微小的静电电容的变化,并变换为数字信号来取入的电容检测装置。
图5是电容检测装置的构成图。该电容检测装置连接于静电电容型的触摸传感器模块的传感器部40。另外,在本发明中,传感器部40并不限于触摸板等的输入设备。传感器部40由作为被检测电容的电容(Cs、Cf)构成。一方的电容Cf根据手指等的接近而发生电容变化,另一方的电容Cs不接受因手指等的接近而引起的电容变化。电容Cs、Cf能经由开关SW1和第1固定电压(Vdd)和第2规定电压(接地电位GND)连接,并且,通过十字开关XS1能切换对电容Cs、Cf施加的固定电压。
该电容检测装置具备连接于传感器部40的斩波(chopping)滤波器50、连接于斩波滤波器50的输出端的积分器60而构成。斩波滤波器50具有将传感器40所检测出的电容值变换为电荷量,并且将低频的外来噪声变换为高频的功能。在斩波滤波器50中也可以具备用于抵消作为本来检测对象外的传感器电容Cs的基电荷量抵消机构。斩波滤波器50经由开关SW2而与传感器部40的电容Cs、Cf连接。另外,斩波滤波器50能将经由开关SW2而连接的电容Cs、Cf经由开关SW3和第1固定电压(Vdd)和第2固定电压(接地电位GND)连接,并且,能通过十字开关XS2切换对电容Cs、Cf施加的固定电压。另外,斩波滤波器50具备经由开关SW2而与电容Cs、Cf并联连接的低通滤波器LPF、和将低通滤波器LPF的平衡输出向后级的积分器60输入的十字开关XIN。
积分器60对从斩波滤波器50输出的电信号(电荷量)进行积分的同时,将与指电容Cf对应的电荷量变换成电压并进行放大,并且,为了附带AD变换器功能的一部分而作为Δ∑模块发挥功能。积分器60具备运算放大器AMP、比较器CMP。运算放大器AMP的平衡输出端上连接有十字开关XOUT1,在十字开关XOUT1的输出端和运算放大器AMP的输入端之间连接有反馈电容(Cb1、Cb2)。将反馈电容(Cb1、Cb2)的电压向运算放大器AMP的输入端进行反馈的路径上连接有十字开关OUT2。另外,运算放大器AMP的平衡输出端经由十字开关XOUT1而连接于比较器CMP的输入端。
对于在如此构成的电容检测装置中直到比较器CMP的输出变化为止的1个循环进行说明。
图6是关于直到1次的积分运算完成为止的1个循环中的选择开关XS1、XS2、XIN、XOUT1、XOUT 2的平行(PARA)连接/交叉(CRSS)连接而示出的图。如图6所示,相当于1次的积分运算动作的1个循环由第1阶段到第4阶段构成,1个阶段相当于采样频率fs的1/fs。
在第1阶段,分别平行连接十字开关XS1、XS2、XIN以及XOUT1、XOUT2。之后,一定期间接通SW1、SW3,在断开SW1、SW3之后,一定期间接通SW2。之后,断开SW2,将积蓄于2个Cmod(SW2的右侧的电容器)中的电荷的差分传输给积分器60。
在第2阶段,交叉连接十字开关XS1、XS2、XIN,平行连接XOUT1、XOUT2。之后,一定期间接通SW1、SW3,在断开SW1、SW3之后,一定期间接通SW2。之后,断开SW2,将积蓄于2个Cmod(SW2的右侧的电容器)中的电荷的差分传输给积分器60。
在第3阶段,平行连接十字开关XS1、XS2,交叉连接XIN、XOUT1、XOUT 2。之后,一定期间接通SW1、SW3,在断开SW1、SW3之后,一定期间接通SW2。之后,断开SW2,将积蓄于2个Cmod(SW2的右侧的电容器)中的电荷的差分传输给积分器60。
在第4阶段,交叉连接十字开关XS1、XS2,平行连接XIN,交叉连接XOUT1、XOUT 2。之后,一定期间接通SW1、SW3,在断开SW1、SW3之后,一定期间接通SW2。之后,断开SW2,将积蓄于2个Cmod(SW2的右侧的电容器)中的电荷的差分传输给积分器60。
如此,经过第1阶段到第4阶段,从比较器CMP输出模拟积分运算结果(2比特)。
根据这样的电容检测装置,通过十字开关XS1、XS2、XIN,降低了在前级产生或施加的低频噪声。另外,通过XIN、XOUT1、XOUT 2降低了在运算放大器AMP产生的低频噪声(闪变噪声等)。
该电容检测装置和数字滤波器1相同地,与系统时钟同步来动作,每4个时钟,比较器CMP的输出发生变化。另外,在作为比较器CMP的输出的比特流中,在采样频率fs的fs/2位置,出现噪声。
通过在该电容检测装置的后级连接本实施方式的数字滤波器1,从电容检测装置输出按每4个时钟发生变化的比特流,在数字滤波器1中,用4个时钟完成前级的Sinc 4阶滤波器11的处理,用4个时钟完成后级的移动平均滤波器12的处理。因此,能够完全匹配成为前级的模拟部2的电容检测装置的模拟运算动作周期和后级的数字滤波器1的周期,能实现有效的运算处理。并且,通过在Sinc 4阶滤波器11的后级连接抽头数为4的移动平均滤波器12,能在作为模拟部2的噪声通过域的采样频率fs的fs/2位置形成陷波,通过噪声衰减能改善检测精度。
图7是其它的电容检测装置的构成图。该电容检测装置构成为对传感器部40的电容Cs、Cf施加脉冲。使脉冲发生器PGEN发生脉冲。
图8表示图7所示的电容检测装置中的十字开关XIN、XOUT1、XOUT2以及脉冲的组合。在第1阶段,平行连接十字开关XIN,平行连接XOUT1、XOUT 2,脉冲在前半部分为低电平,在后半部分变化为高电平。在第2阶段,交叉连接十字开关XIN,平行连接XOUT1、XOUT 2,脉冲在前半部分为高电平,在后半部分变化为低电平。在第3阶段,交叉连接十字开关XIN,交叉连接XOUT1、XOUT 2,脉冲在前半部分为低电平,在后半部分变化为高电平。在第4阶段,平行连接十字开关XIN,交叉连接XOUT1、XOUT 2,脉冲在前半部分为高电平,在后半部分变化为低电平。
在以上的第1阶段到第4阶段的1个循环中,执行1次积分器60中的积分运算。如此,即使在图8所示的电容检测装置中,也是每4个时钟而比较器CMP的积分输出发生变化。
本发明并不限于上述的实施方式,能够在不脱离本发明的要旨的范围进行变形实施。例如,模拟部2不限于电容检测装置,也可以是其它的积分器。
本发明能应用于将Sinc滤波器进行多级级联而形成的数字滤波器。

Claims (4)

1.一种数字滤波器,在前级配置有模拟部,并且以和所述模拟部同步的时钟进行动作,从所述模拟部输出的比特数据中除去噪声,其中,该模拟部的模拟运算结果的比特数据输出按每N个时钟而发生变化,所述数字滤波器的特征在于构成为具备:
Sinc N阶滤波器,其将提取采样的移动平均的Sinc滤波器级联为N级而形成;和
K抽头数的移动平均滤波器,其连接于所述Sinc N阶滤波器的输出级。
2.根据权利要求1所述的数字滤波器,其特征在于,
所述Sinc N阶滤波器具备:
脉冲响应生成器,其生成所述数字滤波器的脉冲响应;
积运算处理部,其求取从所述模拟部输入的比特数据和由所述脉冲响应生成器生成的脉冲响应的积;
加法器,其将从所述积运算处理部输出的本次的积与1个时钟前从所述积运算处理部输出的前次的积进行相加;和
双稳态多谐振荡器,其将所述加法器的加法运算结果延迟1个时钟后提供给所述加法器。
3.根据权利要求2所述的数字滤波器,其特征在于,
所述脉冲响应生成器具备:
3次微分生成器,其生成所述数字滤波器的脉冲响应的3次微分值;和
3个积分器,其串联连接于所述3次微分生成器的输出级。
4.根据权利要求1所述的数字滤波器,其特征在于,
所述Sinc N阶滤波器是将抽头数为M的Sinc滤波器级联为4级而构成的,
所述移动平均滤波器由抽头数为4的移动平均滤波器构成,
作为所述模拟运算,所述模拟部按每4个时钟进行1次积分,并在相对于采样频率fs的fs/2处具有噪声通过域。
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