CN102130863B - 一种基带信号的截位方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种基带信号的截位方法及装置，包括：对基带信号进行信号处理得到幅度时延轮廓(ADP)集合；采用上一次门限检测得到的能量径的最大值作为截位参数，截取ADP集合的能量径的最大值所在位及以下的共8～12位作为采样数据；或采用上一次门限检测得到的噪声均值作为截位参数，截取ADP集合的噪声均值所在位及以上的共8～12位作为采样数据。本发明能够减小信号的位宽，达到降低芯片存储空间和功耗的效果，节省了芯片的成本，若一个采样数据截取8bit(位)，比原来的12～16bit存入两个8bitRAM节省了1倍的存储空间。

Description

一种基带信号的截位方法及装置
技术领域
本发明涉及宽带码分多址通信系统，尤其涉及一种基带信号的截位方法及装置。
背景技术
在宽带码分多址(Wide Code Division Multiple Access，WCDMA)通信系统中，基站对上行信号需要进行搜索同步，终端对下行信号需要进行搜索同步，基站和终端的射频模块接收射频信号，并对信号进行解调，得到基带信息，基带处理器对于基带信号要进行解扰、解扩，解扰解扩后的数据要进行相干累加和非相干累加，对相干累加和非相干累加后得到的幅度时延轮廓(Amplitude Delay Profile，ADP)集合要进行截位。
目前采用的截位方法是固定截位法，截去高位能量相干的饱和部分以及低位能量相干的噪声部分。截位后对数据进行滤波、门限检测和选径等一系列操作。
基站对每个终端的多个无线链路的数据都需要进行存储，固定截位法对数据统一进行处理，方法简单，但对于不同信道，固定截位法截位得到的数据冗余信息比较多，基站一般搜索几百个终端信号，占用RAM(随机存储器)空间比较大，基带处理器的成本和功耗是一个巨大的消耗。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种基带信号的截位方法及装置，解决固定截位法截位得到的数据冗余信息较多的问题，实现更加有效地截取数据，以减少存储空间和基带处理器成本和功耗的耗费。
为解决上述技术问题，本发明的一种基带信号的截位方法，包括：
对基带信号进行信号处理得到幅度时延轮廓(ADP)集合；
采用上一次门限检测得到的能量径的最大值作为截位参数，截取ADP集合的能量径的最大值所在位及以下的共8～12位作为采样数据；或采用上一次门限检测得到的噪声均值作为截位参数，截取ADP集合的噪声均值所在位及以上的共8～12位作为采样数据。
进一步地，采用能量径的最大值或噪声均值完成一次截位后，再次进行截位时，根据上一次门限检测得到的能量径的最大值或噪声均值，按照前次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，使所得到的采样数据的最高位的前一位为饱和位，或最低位的后一位为噪声位。
进一步地，若上一次门限检测得到的能量径的最大值在192～256之间，则截取范围向左平移一位；若在96～192之间，则截取范围不变；若在48～96之间，则向右平移一位；若在24～48之间，则向右平移二位；若在12～24之间，则向右平移三位；若在6～12之间，则向右平移四位；若在3～6之间，则向右平移五位；若在1～3之间，则向右平移六位；若在0～1之间，则向右平移七位。
进一步地，若上一次门限检测得到的噪声均值在19～26之间，则截取范围向左平移一位；若在10～19之间，则截取范围不变；若在5～10之间，则向右平移一位；若在2～5之间，则向右平移二位；若在0～2之间，则向右平移三位。
进一步地，初次截位时，采用固定截位法截取ADP集合的12～16位作为采样数据，并进行门限检测得到能量径的最大值和噪声均值。
进一步地，一种基带信号的截位装置，包括：射频模块和基带处理器，基带处理器包括搜索器，其中：
射频模块，用于接收射频信号，将接收到的射频信号解调为基带信号，并发送给搜索器；
搜索器，用于对接收到的基带信号进行信号处理得到幅度时延轮廓(ADP)集合；采用上一次门限检测得到的能量径的最大值作为截位参数，截取ADP集合的能量径的最大值所在位及以下的共8～12位作为采样数据；或采用上一次门限检测得到的噪声均值作为截位参数，截取ADP集合的噪声均值所在位及以上的共8～12位作为采样数据。
进一步地，搜索器在采用能量径的最大值或噪声均值完成一次截位后，再次进行截位时，根据上一次门限检测得到的能量径的最大值或噪声均值，按照前次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，使所得到的采样数据的最高位的前一位为饱和位，或最低位的后一位为噪声位。
进一步地，搜索器在平移截取范围时，若上一次门限检测得到的能量径的最大值在192～256之间，则向左平移一位；若在96～192之间，则截取范围不变；若在48～96之间，则向右平移一位；若在24～48之间，则向右平移二位；若在12～24之间，则向右平移三位；若在6～12之间，则向右平移四位；若在3～6之间，则向右平移五位；若在1～3之间，则向右平移六位；若在0～1之间，则向右平移七位。
进一步地，搜索器在平移截取范围时，若上一次门限检测得到的噪声均值在19～26之间，则截取范围向左平移一位；若在10～19之间，则截取范围不变；若在5～10之间，则向右平移一位；若在2～5之间，则向右平移二位；若在0～2之间，则向右平移三位。
进一步地，搜索器在初次截位时，采用固定截位法截取ADP集合的12～16位作为采样数据，并进行门限检测得到能量径的最大值和噪声均值。
综上所述，本发明采用上一次门限检测得到的能量径的最大值或噪声均值进行截位，能够减小信号的位宽，达到降低芯片存储空间和功耗的效果，节省了芯片的成本，若一个采样数据截取8bit(位)，比原来的12～16bit存入两个8bitRAM节省了1倍的存储空间，并且，本发明方法的误码率能够达到3GPP(第三代合作伙伴计划)的性能，满足产品的功能。
附图说明
图1为本发明基带信号的截位方法的流程图；
图2为本发明基带信号的截位装置的架构图。
具体实施方式
本发明实施方式采用上一次门限检测中得到的能量径的最大值或噪声均值，对ADP集合动态地截取高位和低位。例如，将ADP集合利用上一次的能量径的最大值，优选地截位到8bit，这样一个ADP数据即可存入1个8bit的RAM中，由于12～16bit需要16bit的RAM存储，因此，比原来的12～16bit存入两个8bit的RAM节省了1倍的存储空间。整体上，一个基站的基带处理器要支持几百个终端，节省1倍的RAM存储空间，芯片的功耗和面积有了极大地降低，节约了成本，可以支持更多的用户，而且能够保证性能。
下面结合附图对本发明的具体实施方式进行说明。
在搜索器处理基带信号时，先对基带信号进行解扰和解扩操作，解扰解扩后的符号数据，要进行导频符号去极性处理，然后对处理后的数据要进行相干累加和非相干累加操作，相干和非相干累加得到的ADP集合要进行截位操作，截位后的数据进行IIR(无限脉冲响应)滤波和门限检测，在门限检测中能检测到能量径的最大值、噪声均值和用于后续信号处理的能量门限，本实施方式将能量径的最大值或噪声均值作为下一次截位的截位参数，下面以将能量径的最大值作为截位参数为例，如图1所示，该方法包括：
101：基带处理器中的搜索器对基带信号的实部和虚部与扰码进行相关运算，得到解扰后的数据；
102：搜索器对基带信号解扰后的数据与扩频码进行相关运算，得到解扩后的数据；
103：搜索器对基带信号解扰解扩后的数据进行相干累加操作，分别累计实部和虚部；
104：搜索器对相干累加后的符号数据进行求模和累加操作，得到非相干累加的结果，即ADP集合；
上述步骤101～104采用现有技术中的方法，最终得到ADP集合。
105：搜索器对ADP集合进行截位，截位参数采用上一次的门限检测得到的能量径的最大值，截取从ADP集合的该能量径的最大值所在位及向下的共计8～12位作为采样数据；
对于第一次采样的基带信号，由于尚未获得过能量径的最大值，因此，可以采用固定截位法截取12～16位采样数据进行存储，以利于信号的搜索，并进行门限检测得到一个能量径的最大值。
相干和非相干累加后得到的ADP集合采用固定位宽16位，动态截取的8～12位采样数据由能量径的最大值决定，能量径的最大值所在的位是采样数据的最高位。
106：搜索器采用能量径的最大值完成一次截位后，对后续的ADP集合进行截位时，根据前次的能量径的最大值，按照前次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，得到本次的采样数据，使采样数据的最高位的前一位为饱和位；
截取范围是指所截取的采样数据的最高位与最低位及中间的各位。
截取范围的平移(即，如何平移取值范围)可根据系统的实际状况在仿真模型的基础上进行优化选择。本实施例中，采用如下方式平移截取范围：
在前次的能量径的最大值在192～256之间时，截取范围向左平移一位，即，本次截取的采样数据相对前次截取的采样数据整体向左平移一位。
在前次的能量径的最大值在96～192之间时，截取范围不变。
在前次的能量径的最大值在48～96之间时，截取范围向右平移一位。
在前次的能量径的最大值在24～48之间时，截取范围向右平移二位。
在前次的能量径的最大值在12～24之间时，截取范围向右平移三位。
在前次的能量径的最大值在6～12之间时，截取范围向右平移四位。
在前次的能量径的最大值在3～6之间时，截取范围向右平移五位。
在前次的能量径的最大值在1～3之间时，截取范围向右平移六位。
在前次的能量径的最大值在0～1之间时，截取范围向右平移七位。
不仅如此，本发明还可以采用上一次的门限检测得到的噪声均值作为截取参数，截取从ADP集合的噪声均值所在位及向上的共计8～12位，作为采样数据，采用噪声均值完成一次截位后，进行后续的ADP集合的截位时，根据上一次的噪声均值，按照上一次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，得到采用数据，使采样数据的最低位的后一位为噪声位。
采用噪声均值作为截取参数时，截取范围的平移规则可以根据能量径的最大值和噪声均值的峰均比的数量级关系确定，能量径的最大值的峰值和噪声均值的峰值的比值在10的数量级范围内。
在前次的噪声均值在19～26之间时，截取范围向左平移一位。
在前次的噪声均值在10～19之间时，截取范围不变。
在前次的噪声均值在5～10之间时，截取范围向右平移一位。
在前次的噪声均值在2～5之间时，截取范围向右平移二位。
在前次的噪声均值在0～2之间时，截取范围向右平移三位。
图2所示为本发明的基带信号的截位装置，包括：射频模块和基带处理器，其中，基带处理器包括搜索器；
射频模块，用于接收射频信号，将接收到的射频信号解调为基带信号，并发送给基带处理器的搜索器；
基带处理器的搜索器，用于对基带信号进行信号处理，得到ADP集合；对ADP集合进行截位，截位参数采用上一次的门限检测得到的能量径的最大值，从能量径的最大值向下截取共计8～12位作为采样数据；采用能量径的最大值完成一次截位后，对后续的ADP集合进行截位时，根据前次的能量径的最大值，按照前次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，得到本次的采样数据，使采样数据的最高位的前一位为饱和位
搜索器还可以采用上一次的门限检测得到的噪声均值作为截取参数，从ADP集合的噪声均值所在位开始向上共计截取8～12位，作为采样数据，采用噪声均值完成一次截位后，进行后续的ADP集合的截位时，根据上一次的噪声均值，按照上一次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，得到采用数据，使采样数据的最低位的后一位为噪声位。
本发明装置中的搜索器实现的具体功能和其它功能请参考方法内容的描述。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基带信号的截位方法，包括：
对基带信号进行信号处理得到幅度时延轮廓ADP集合；
采用上一次门限检测得到的能量径的最大值作为截位参数，截取所述ADP集合的所述能量径的最大值所在位及以下的共8～12位作为采样数据；或采用上一次门限检测得到的噪声均值作为截位参数，截取所述ADP集合的所述噪声均值所在位及以上的共8～12位作为采样数据。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：
采用所述能量径的最大值或噪声均值完成一次截位后，再次进行截位时，根据上一次门限检测得到的能量径的最大值或噪声均值，按照前次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，使所得到的采样数据的最高位的前一位为饱和位，或最低位的后一位为噪声位。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：
若所述上一次门限检测得到的能量径的最大值在192～256之间，则所述截取范围向左平移一位；若在96～192之间，则所述截取范围不变；若在48～96之间，则向右平移一位；若在24～48之间，则向右平移二位；若在12～24之间，则向右平移三位；若在6～12之间，则向右平移四位；若在3～6之间，则向右平移五位；若在1～3之间，则向右平移六位；若在0～1之间，则向右平移七位。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于：
若所述上一次门限检测得到的噪声均值在19～26之间，则所述截取范围向左平移一位；若在10～19之间，则所述截取范围不变；若在5～10之间，则向右平移一位；若在2～5之间，则向右平移二位；若在0～2之间，则向右平移三位。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于：
初次截位时，采用固定截位法截取所述ADP集合的12～16位作为采样数据，并进行门限检测得到所述能量径的最大值和噪声均值。
6.一种基带信号的截位装置，包括：射频模块和基带处理器，所述基带处理器包括搜索器，其中：
所述射频模块，用于接收射频信号，将接收到的射频信号解调为基带信号，并发送给所述搜索器；
所述搜索器，用于对接收到的基带信号进行信号处理得到幅度时延轮廓ADP集合；采用上一次门限检测得到的能量径的最大值作为截位参数，截取所述ADP集合的所述能量径的最大值所在位及以下的共8～12位作为采样数据；或采用上一次门限检测得到的噪声均值作为截位参数，截取所述ADP集合的所述噪声均值所在位及以上的共8～12位作为采样数据。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于：
所述搜索器在采用所述能量径的最大值或噪声均值完成一次截位后，再次进行截位时，根据上一次门限检测得到的能量径的最大值或噪声均值，按照前次截取的采样数据的最高位和最低位，平移截取范围，使所得到的采样数据的最高位的前一位为饱和位，或最低位的后一位为噪声位。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于：
所述搜索器在平移所述截取范围时，若所述上一次门限检测得到的能量径的最大值在192～256之间，则向左平移一位；若在96～192之间，则所述截取范围不变；若在48～96之间，则向右平移一位；若在24～48之间，则向右平移二位；若在12～24之间，则向右平移三位；若在6～12之间，则向右平移四位；若在3～6之间，则向右平移五位；若在1～3之间，则向右平移六位；若在0～1之间，则向右平移七位。
9.如权利要求7所述的装置，其特征在于：
所述搜索器在平移所述截取范围时，若所述上一次门限检测得到的噪声均值在19～26之间，则所述截取范围向左平移一位；若在10～19之间，则所述截取范围不变；若在5～10之间，则向右平移一位；若在2～5之间，则向右平移二位；若在0～2之间，则向右平移三位。
10.如权利要求6所述的装置，其特征在于：
所述搜索器在初次截位时，采用固定截位法截取所述ADP集合的12～16位作为采样数据，并进行门限检测得到所述能量径的最大值和噪声均值。
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Address after: 210012 Zhongxing communication, No. 68, Bauhinia Road, Yuhuatai District, Jiangsu, Nanjing

Applicant after: Nanjing Branch of ZTE Corp.

Address before: 518057 Nanshan District Guangdong high tech Industrial Park, South Road, science and technology, ZTE building, Ministry of Justice

Applicant before: ZTE Corp.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
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Effective date of registration: 20150707

Address after: 518057 Nanshan District Guangdong high tech Industrial Park, South Road, science and technology, ZTE building, Ministry of Justice

Patentee after: ZTE Corp.

Address before: 210012 Zhongxing communication, No. 68, Bauhinia Road, Yuhuatai District, Jiangsu, Nanjing

Patentee before: Nanjing Branch of ZTE Corp.

TR01 Transfer of patent right
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Effective date of registration: 20221111

Address after: 518055 Zhongxing Industrial Park, Liuxian Avenue, Xili street, Nanshan District, Shenzhen City, Guangdong Province

Patentee after: SANECHIPS TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: 518057 Ministry of justice, Zhongxing building, South Science and technology road, Nanshan District hi tech Industrial Park, Shenzhen, Guangdong

Patentee before: ZTE Corp.