CN101944962B - 同时测试多部td-lte终端射频性能的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
一种用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法和装置，方法步骤为，将SIM卡编号插入2～4部终端；使综合测试仪处于等待终端开机入网状态，将SIM卡标记的终端与综合测试仪进行射频连接，给终端上电；将终端各自的SIM卡IMSI号、S-TMSI号和C-RNTI建立对应关系；将综合测试仪的网络系统参数中上下行子帧配置选择为配置1或配置0；在无线帧中的对应子帧上以DCI格式0分别传输各终端的下行PDCCH信号，通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定各终端分别在对应的上行子帧上传输上行PUSCH信号；综合测试仪分析该PUSCH的射频性能。该装置包括主控单元、系统模拟器和射频处理单元，射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元。本发明使得一综合测试仪可同时对多部终端进行射频性能测试，且信号间干扰较小。
Description
技术领域
本发明涉及移动通信技术领域，具体涉及一种用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法和实现该方法的装置。
技术背景
随着现代通信行业的发展，以及TD-SCDMA制式终端的日益成熟，TD-LTE(TD-SCDMA Long term evolution)技术不断完善，TD-LTE终端生产量将会逐渐加大。为了检查TD-LTE终端的生产质量和性能指标，必须通过终端综合测试仪进行测试。目前还没有成熟的TD-LTE终端综合测试仪，这样严重限制了TD-LTE终端生产厂家的生产效率，增加了TD-LTE终端的生产成本。
发明内容
本发明的目是针对上述技术问题，提供一种可以同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法和实现该方法的装置，该装置可以在信令连接的情况下对多部TD-LTE终端进行射频性能测试，各TD-LTE终端的信号间干扰较小，并且多个TD-LTE终端并行测试时可以被配置为1.4MHZ到20MHZ带宽的频域资源。
为实现上述目的，本发明所设计的用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法，它包括如下步骤：
1)打开TD-LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP(3rdGeneration Paratership Project，第三代合作伙伴项目)协议关于TD-LTE终端射频测试规范的参数要求，设置好TD-LTE终端入网所需的系统参数，使TD-LTE终端综合测试仪处于等待TD-LTE终端开机入网的状态，系统参数中上下行子帧配置为配置1，即1个无线帧有4个下行子帧，4个上行子帧，2个同步子帧，或系统参数中上下行子帧配置为配置0，即1个无线帧有2个下行子帧，6个上行子帧，2个同步子帧；将SIM(Subscriber Identity Module，用户身份识别模块)卡编号后插入待测的2～4部TD-LTE终端中，按照所述SIM卡依次标记相应的TD-LTE终端；将TD-LTE终端与TD-LTE终端综合测试仪进行射频连接，给TD-LTE终端上电，进行TD-LTE终端的开机入网信令流程；
2)在TD-LTE终端开机入网信令流程中，TD-LTE终端综合测试仪通过NAS(Non access stratum，非接入层)信令查询到所述TD-LTE终端中SIM卡的IMSI(International mobile subscriberidentity，国际移动用户识别码)号，并与入网流程中分配给各TD-LTE终端的S-TMSI(S-Temporary Mobile Station Identifier，临时移动用户标识)号和C-RNTI(Cell Radio Network Temporary Identifier，小区无线网络临时标识)标识号相关联，以此识别TD-LTE终端是哪一部TD-LTE终端；通过这个过程，TD-LTE终端、TD-LTE终端各自的SIM卡IMSI号、S-TMSI号和C-RNTI建立了一一对应关系，用于在时域上区分测试的是哪部TD-LTE终端的信号；
3)TD-LTE终端综合测试仪寻呼各TD-LTE终端并建立专用的无线承载；当系统参数中上下行子帧配置为配置1时，在无线帧中的子帧#1、子帧#4、子帧#6、子帧#9上以DCI(Downlink ControlInformation，下行控制信息)格式0分别传输各TD-LTE终端的下行PDCCH(Physical downlink control channel，物理下行控制信道)信号；当系统参数中上下行子帧配置为配置0时，在无线帧中的子帧#0、子帧#1、子帧#5、子帧#6上以DCI格式0分别传输各TD-LTE终端的下行PDCCH信号；然后通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定各TD-LTE终端分别在对应的上行子帧上传输上行PUSCH(Physicaluplink shared channel，物理上行共享信道)信号；
4)TD-LTE终端综合测试仪利用系统模拟器的数据采集触发信号采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号，再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的射频性能指标的参数值。
所述TD-LTE终端为4部。
在步骤3)中，当系统参数中上下行子帧配置为配置1时，在子帧#1上传输的下行PDCCH信号以第三部TD-LTE终端UE3(UE，User Equipment，用户设备即终端)的C-RNTI加扰，指示第三部TD-LTE终端UE3在子帧#7上传输上行PUSCH信号；在子帧#4上传输的下行PDCCH信号以第四部TD-LTE终端UE4的C-RNTI加扰，指示第四部TD-LTE终端UE4在子帧#8上传输上行PUSCH信号；在子帧#6上传输的下行PDCCH信号以第一部TD-LTE终端UE1的C-RNTI加扰，指示第一部TD-LTE终端UE1在子帧#2上传输上行PUSCH信号；在子帧#9上传输的下行PDCCH信号以第二部TD-LTE终端UE2的C-RNTI加扰，指示第二部TD-LTE终端UE2在子帧#3上传输上行PUSCH信号；第一部TD-LTE终端UE1、第二部TD-LTE终端UE2、第三部TD-LTE终端UE3、第四部TD-LTE终端UE4会根据各自的C-RNTI检测到属于自己的下行PDCCH信号，解析DCI信息，并依次在子帧#2、子帧#3、子帧#7、子帧#8传输各自的上行PUSCH信号；
当系统参数中上下行子帧配置为配置0时，根据3GPP协议，在各子帧上的下行PDCCH信号携带的DCI控制信息中UL Index(Uplink Index，上行索引值)设置为二进制数10；在子帧#0上传输的下行PDCCH信号以第二部TD-LTE终端UE2的C-RNTI加扰，指示第二部TD-LTE终端UE2在子帧#4上传输上行PUSCH信号；在子帧#1上传输的下行PDCCH信号以第三部TD-LTE终端UE3的C-RNTI加扰，指示第三部TD-LTE终端UE3在子帧#7上传输上行PUSCH信号；在子帧#5上传输的下行PDCCH信号以第四部TD-LTE终端UE4的C-RNTI加扰，指示第四部TD-LTE终端UE4在子帧#9上传输上行PUSCH信号；在子帧#6上传输的下行PDCCH信号以第一部TD-LTE终端UE1的C-RNTI加扰，指示第一部TD-LTE终端UE1在子帧#2上传输上行PUSCH信号；第一部TD-LTE终端UE1、第二部TD-LTE终端UE2、第三部TD-LTE终端UE3、第四部TD-LTE终端UE4会根据各自的C-RNTI检测到属于自己的下行PDCCH信号，解析DCI信息，并依次在子帧#2、子帧#4、子帧#7、子帧#9传输各自的上行PUSCH信号；由此完成了各个TD-LTE终端在指定子帧上传输上行PUSCH信号的过程。
在步骤4)中，数据采集触发信号为在无线帧的子帧#0结束处设置为低电平，此无线帧的子帧#6结束处对应的设置为高电平。
一种根据上述方法设计的用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的装置，它包括主控单元、系统模拟器、功率分配单元和射频处理单元，其中，所述系统模拟器和射频处理单元均通过PXI(PCIeXtensions for Instrumentation，面向仪器系统的PCI扩展)总线连接主控单元，所述系统模拟器与射频处理单元通过LDVS(Low VoltageDifferential Signaling低压差分信号)数据接口连接，所述射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元，所述本振单元用于给射频发射单元和射频接收单元提供载波信号以及参考时钟信号，所述功率分配单元通过射频接口连接所述射频处理单元，所述功率分配单元通过PXI总线连接到主控单元；所述功率分配单元用于实现上、下行信号的功率分配，并且将多部TD-LTE终端并联到TD-LTE终端综合测试仪。
所述系统模拟器根据3GPP协议对应的协议规范，模拟出物理层协议、数据链路层协议、网络层协议和NAS层协议；所述系统模拟器用于建立和维持TD-LTE终端综合测试仪和被测TD-LTE终端之间的无线承载，便于进行信令连接情况下的射频性能的测试，所述系统模拟器产生下行数字基带I/Q(In-phase/Quadrature，同向正交)信号，经过LVDS数据接口送到射频发射单元，所述系统模拟器将来自射频接收单元的上行数字基带I/Q信号还原成信令和业务数据。
所述射频发射单元用来将系统模拟器产生的下行数字基带I/Q信号进行调制和上变频处理后发射给被测TD-LTE终端。
所述射频接收模块接收被测TD-LTE终端的射频信号，并将该被测TD-LTE终端的射频信号下变频为中频信号，再转化为数字中频信号，然后经正交解调后转换为上行数字基带信号，所述上行数字基带I/Q信号一路经过LVDS接口实时传送到系统模拟器中恢复为信令和数据，以保持信令的连接，另一路缓存在接收模块的数据缓冲区中并经过PXI总线送到主控单元进行射频指标分析。
所述主控单元包括人机接口单元、集成控制单元、信号处理单元和远程控制单元，所述集成控制单元用于控制系统模拟器、射频处理单元和射频切换开关单元；所述信号处理单元用于分析被测TD-LTE终端的射频性能；所述远程控制单元用于TD-LTE终端综合测试仪与计算机进行远程交互，实现TD-LTE终端综合测试仪的远程控制。
本发明的方法通过首先插入SIM卡标记各个TD-LTE终端，在开机入网信令流程中关联各TD-LTE终端的SIM卡IMSI号、S-TMSI号和C-RNTI，再在所述无线帧中的对应子帧上以DCI格式0分别传输以各TD-LTE终端的C-RNTI加扰的下行PDCCH信号，通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定各TD-LTE终端分别在对应的上行子帧上传输上行PUSCH信号，从而在时域上区分测试的是哪部TD-LTE终端的信号，最后采集上行PUSCH信号并对该信号进行射频分析。使得一部TD-LTE终端综合测试仪可以在信令连接的情况下对多部TD-LTE终端进行射频性能测试，各TD-LTE终端的信号间干扰较小，并且多个TD-LTE终端并行测试时可以被配置为1.4MHZ到20MHZ带宽的频域资源。本发明的装置根据上述方法设计出一种用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的TD-LTE终端综合测试仪，该TD-LTE终端综合测试仪在同时测试多部TD-LTE终端射频性能的时候，具有准确性好，测试速度快的优点。
附图说明
图1为上、下行子帧配置1的无线帧结构图；
图2为上、下行子帧配置0的无线帧结构图
图3为四部TD-LTE终端的时域资源分配图；
图4为数据采集用系统模拟器同步信号的结构图；
图5为本发明的TD-LTE综测仪的系统结构图；
图6为TD-LTE综测仪与多部TD-LTE终端的射频连接示意图。
其中，图1中S子帧表示同步子帧，图3中的长箭头线表示各TD-LTE终端对应的PDCCH信号调度的PUSCH信号在无线帧中所对应的子帧的位置。图1～3中向上的箭头表示上行子帧，向下的箭头表示下行子帧。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明：
如图5和6所示的一种用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的装置即TD-LTE终端综合测试仪，它包括主控单元、系统模拟器、功率分配单元和射频处理单元，其中，系统模拟器和射频处理单元均通过PXI总线连接主控单元，系统模拟器与射频处理单元通过LDVS(低压差分信号)数据接口连接，射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元，本振单元用于给射频发射单元和射频接收单元提供载波信号以及10MHZ的参考时钟信号。该装置具备简化的TD-LTE基站的功能，可以与TD-LTE终端进行信令连接和数据传输等业务，并且可以对TD-LTE终端进行信令连接条件下的射频测试。所述功率分配单元通过射频接口连接所述射频处理单元，所述功率分配单元通过PXI总线连接到主控单元；所述功率分配单元用于实现上、下行信号的功率分配，并且将多部TD-LTE终端并联到TD-LTE终端综合测试仪。
上述技术方案中，系统模拟器主要运行协议栈软件，根据3GPP协议对应的协议规范，模拟出物理层协议、数据链路层协议、网络层协议和NAS层协议；系统模拟器用于建立和维持TD-LTE终端综合测试仪和被测TD-LTE终端之间的无线承载，便于进行信令连接情况下的射频性能的测试，系统模拟器产生下行数字基带I/Q信号，经过LVDS数据接口送到射频发射单元，系统模拟器将来自射频接收单元的上行数字基带I/Q信号还原成信令和业务数据。系统模拟器可模拟出基站的系统环境。
上述技术方案中，射频发射模块用来将系统模拟器产生的下行数字基带I/Q信号进行调制和上变频处理后发射给被测TD-LTE终端。
上述技术方案中，射频接收模块接收被测TD-LTE终端的射频信号，并将该被测TD-LTE终端的射频信号下变频为中频信号，再转化为数字中频信号，然后经正交解调后转换为上行数字基带信号，上行数字基带I/Q信号一路经过LVDS接口实时传送到系统模拟器中恢复为信令和数据，以保持信令的连接，另一路缓存在接收模块的数据缓冲区中并经过PXI总线送到主控单元进行射频指标分析。
上述技术方案中，主控单元包括人机接口单元、集成控制单元、信号处理单元和远程控制单元，集成控制单元用于控制系统模拟器、射频处理单元和射频切换开关单元；信号处理单元用于分析被测TD-LTE终端的射频性能；远程控制单元用于TD-LTE终端综合测试仪与计算机进行远程交互，实现TD-LTE终端综合测试仪的远程控制。
上述TD-LTE终端的开机入网信令流程为：1.TD-LTE终端发送前导码，2.系统模拟器随机接入响应，3.TD-LTE终端请求连接，4.系统模拟器连接建立，5.TD-LTE终端连接建立完成，6.系统模拟器查询TD-LTE终端的身份，7.TD-LTE终端的身份响应，8.系统模拟器鉴权请求，9.TD-LTE终端鉴权响应，10.系统模拟器激活NAS安全模式，11.TD-LTE终端NAS安全模式完成，12.系统模拟器ESM信息请求，13.TD-LTE终端ESM信息响应，14.系统模拟器激活测试模式，15.TD-LTE终端测试模式机会完成，16.系统模拟器激活AS安全模式，17.TD-LTE终端安全模式完成，18系统模拟器激对TD-LTE终端能力查询，19.TD-LTE终端提供其能力信息，20.系统模拟器连接重配，21.TD-LTE终端连接重配完成，22.TD-LTE终端附着流程完成，23.系统模拟器连接释放。
上述TD-LTE终端建立无线承载的信令流程为：1.系统模拟器寻呼TD-LTE终端，2.TD-LTE终端连接请求，3.系统模拟器连接建立，4.TD-LTE终端连接建立完成，5.系统模拟器激活AS安全模式，6.TD-LTE终端AS安全模式完成，7.系统模拟器连接重配，8.TD-LTE终端连接重配完成，9.TD-LTE终端建立专用EPS承载，10.系统模拟器连接释放。
一种用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法，它包括如下步骤：
1)打开TD-LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP协议关于TD-LTE终端射频测试规范的参数要求，设置好TD-LTE终端入网所需的系统参数，使TD-LTE终端综合测试仪处于等待TD-LTE终端开机入网的状态，系统参数中上下行子帧配置为配置1，即1个无线帧有4个下行子帧，4个上行子帧，2个同步子帧，或系统参数中上下行子帧配置为配置0，即1个无线帧有2个下行子帧，6个上行子帧，2个同步子帧；将SIM卡编号后插入待测的2～4部TD-LTE终端中，按照所述SIM卡依次标记相应的TD-LTE终端；将TD-LTE终端与TD-LTE终端综合测试仪进行射频连接，给TD-LTE终端上电，进行TD-LTE终端的开机入网信令流程；
2)在TD-LTE终端开机入网信令流程中，TD-LTE终端综合测试仪通过NAS信令查询到所述TD-LTE终端中SIM卡的IMSI号，并与入网流程中分配给各终端的S-TMSI号和C-RNTI标识号相关联，以此识别TD-LTE终端是哪一部TD-LTE终端；通过这个过程，TD-LTE终端、TD-LTE终端各自的SIM卡IMSI号、S-TMSI号和C-RNTI建立了一一对应关系，用于在时域上区分测试的是哪部TD-LTE终端的信号；
3)TD-LTE终端综合测试仪寻呼各TD-LTE终端并建立专用的无线承载；当系统参数中上下行子帧配置为配置1时，在无线帧中的子帧#1、子帧#4、子帧#6、子帧#9上以DCI格式0分别传输各TD-LTE终端的下行PDCCH信号；当系统参数中上下行子帧配置为配置0时，在无线帧中的子帧#0、子帧#1、子帧#5、子帧#6上以DCI格式0分别传输各TD-LTE终端的下行PDCCH信号；然后通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定各TD-LTE终端分别在对应的上行子帧上传输上行PUSCH信号；4)TD-LTE终端综合测试仪利用系统模拟器的数据采集触发信号采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号，再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的射频性能指标的参数值。TD-LTE终端信号射频性能分析包括TD-LTE终端发射机和接收机的性能指标，主要的指标如下：发射机性能测试主要包括TD-LTE终端最大输出功率，功率控制，最低输出功率，发射开/关功率，频率误差，误差矢量幅度，占用带宽，频谱辐射模板，邻道泄漏比；接收机性能测试主要包括参考灵敏度，最大输入功率，接收机误码率/吞吐量。
上述技术方案中，TD-LTE终端优选为4部。
上述技术方案中，如图1～2所示，在步骤3)中，上、下行子帧配置为配置1时，在子帧#1上传输的下行PDCCH信号以第三部TD-LTE终端UE3的C-RNTI加扰，指示第三部TD-LTE终端UE3在子帧#7上传输上行PUSCH信号；在子帧#4上传输的下行PDCCH信号以第四部TD-LTE终端UE4的C-RNTI加扰，指示第四部TD-LTE终端UE4在子帧#8上传输上行PUSCH信号；在子帧#6上传输的下行PDCCH信号以第一部TD-LTE终端UE1的C-RNTI加扰，指示第一部TD-LTE终端UE1在子帧#2上传输上行PUSCH信号；在子帧#9上传输的下行PDCCH信号以第二部TD-LTE终端UE2的C-RNTI加扰，指示第二部TD-LTE终端UE2在子帧#3上传输上行PUSCH信号；第一部TD-LTE终端UE1、第二部TD-LTE终端UE2、第三部TD-LTE终端UE3、第四部TD-LTE终端UE4会根据各自的C-RNTI检测到属于自己的下行PDCCH信号，解析DCI信息，并依次在子帧#2、子帧#3、子帧#7、子帧#8传输各自的上行PUSCH信号，由此完成了各个TD-LTE终端在指定子帧上传输上行PUSCH信号的过程。
上、下行子帧配置0与上述配置1的情况基本类似，不同之处在于1)上下行子帧配置为配置0时，根据3GPP协议，需要将下行PDCCH信号携带的DCI控制信息中UL Index(Up link Index，上行索引值)设置为二进制数10；2)配置0时1个无线帧有2个下行子帧，6个上行子帧，2个同步子帧；在子帧#0上传输的下行PDCCH信号以第二部TD-LTE终端UE2的C-RNTI加扰，指示第二部TD-LTE终端UE2在子帧#4上传输上行PUSCH信号；在子帧#1上传输的下行PDCCH信号以第三部TD-LTE终端UE3的C-RNTI加扰，指示第三部TD-LTE终端UE3在子帧#7上传输上行PUSCH信号；在子帧#5上传输的下行PDCCH信号以第四部TD-LTE终端UE4的C-RNTI加扰，指示第四部TD-LTE终端UE4在子帧#9上传输上行PUSCH信号；在子帧#6上传输的下行PDCCH信号以第一部TD-LTE终端UE1的C-RNTI加扰，指示第一部TD-LTE终端UE1在子帧#2上传输上行PUSCH信号；第一部TD-LTE终端UE1、第二部TD-LTE终端UE2、第三部TD-LTE终端UE3、第四部TD-LTE终端UE4会根据各自的C-RNTI检测到属于自己的下行PDCCH信号，解析DCI信息，并依次在子帧#2、子帧#4、子帧#7、子帧#9传输各自的上行PUSCH信号，
上、下行子帧配置1或0的情况下2部TD-LTE终端和3部TD-LTE终端与上述4部TD-LTE终端同时进行信令连接条件下射频测试的方法基本类似。当同时测试3部TD-LTE终端时，不考虑TD-LTE终端UE4的开机入网流程、TD-LTE终端识别、PDCCH携带的DCI指示的时域资源安排、数据采集和分析等相应操作；同时测试2部TD-LTE终端时，不考虑TD-LTE终端UE3和UE4的相应操作；测试1部TD-LTE终端时，不考虑TD-LTE终端UE2、UE3和UE4的相应操作。
上述技术方案中，如图4所示，在步骤4)中，数据采集触发信号为在子帧#0的结束处设置为低电平，此无线帧的子帧#6结束处对应的设置为高电平。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (6)
1.一种用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法，其特征在于它包括如下步骤：
1)打开TD-LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP协议关于TD-LTE终端射频测试规范的参数要求，设置好TD-LTE终端入网所需的系统参数，使TD-LTE终端综合测试仪处于等待TD-LTE终端开机入网的状态，系统参数中上下行子帧配置为配置1，即1个无线帧有4个下行子帧，4个上行子帧，2个同步子帧，或系统参数中上下行子帧配置为配置0，即1个无线帧有2个下行子帧，6个上行子帧，2个同步子帧；将SIM卡编号后插入待测的2～4部TD-LTE终端中，按照所述SIM卡依次标记相应的TD-LTE终端；将TD-LTE终端与TD-LTE终端综合测试仪进行射频连接，给TD-LTE终端上电，进行TD-LTE终端的开机入网信令流程；
2)在TD-LTE终端开机入网信令流程中，TD-LTE终端综合测试仪通过NAS信令查询到所述TD-LTE终端中SIM卡的IMSI号，并与入网流程中分配给各TD-LTE终端的S-TMSI号和C-RNTI标识号相关联，以此识别TD-LTE终端是哪一部TD-LTE终端；通过这个过程，TD-LTE终端、TD-LTE终端各自的SIM卡IMSI号、S-TMSI号和C-RNTI建立了一一对应关系，用于在时域上区分测试的是哪部TD-LTE终端的信号；
3)TD-LTE终端综合测试仪寻呼各TD-LTE终端并建立专用的无线承载；当系统参数中上下行子帧配置为配置1时，无线帧中的子帧#1、子帧#4、子帧#6、子帧#9上以DCI格式0分别传输各TD-LTE终端的下行PDCCH信号；当系统参数中上下行子帧配置为配置0时，无线帧中的子帧#0、子帧#1、子帧#5、子帧#6上以DCI格式0分别传输各TD-LTE终端的下行PDCCH信号；然后通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定各TD-LTE终端分别在对应的上行子帧上传输上行PUSCH信号；
4)TD-LTE终端综合测试仪利用系统模拟器的数据采集触发信号采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号，再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理单元计算得到TD-LTE终端的射频性能指标的参数值；所述TD-LTE终端为4部；在步骤3)中，当系统参数中上下行子帧配置为配置1时，在子帧#1上传输的下行PDCCH信号以第三部TD-LTE终端UE3的C-RNTI加扰，指示第三部TD-LTE终端UE3在子帧#7上传输上行PUSCH信号；在子帧#4上传输的下行PDCCH信号以第四部TD-LTE终端UE4的C-RNTI加扰，指示第四部TD-LTE终端UE4在子帧#8上传输上行PUSCH信号；在子帧#6上传输的下行PDCCH信号以第一部TD-LTE终端UE1的C-RNTI加扰，指示第一部TD-LTE终端UE1在子帧#2上传输上行PUSCH信号；在子帧#9上传输的下行PDCCH信号以第二部TD-LTE终端UE2的C-RNTI加扰，指示第二部TD-LTE终端UE2在子帧#3上传输上行PUSCH信号；第一部TD-LTE终端UE1、第二部TD-LTE终端UE2、第三部TD-LTE终端UE3、第四部TD-LTE终端UE4会根据各自的C-RNTI检测到属于自己的下行PDCCH信号，解析DCI信息，并依次在子帧#2、子帧#3、子帧#7、子帧#8传输各自的上行PUSCH信号；
当系统参数中上下行子帧配置为配置0时，根据3GPP协议，在各子帧上的下行PDCCH信号携带的DCI控制信息中UL Index设置为二进制数10；在子帧#0上传输的下行PDCCH信号以第二部TD-LTE终端UE2的C-RNTI加扰，指示第二部TD-LTE终端UE2在子帧#4上传输上行PUSCH信号；在子帧#1上传输的下行PDCCH信号以第三部TD-LTE终端UE3的C-RNTI加扰，指示第三部TD-LTE终端UE3在子帧#7上传输上行PUSCH信号；在子帧#5上传输的下行PDCCH信号以第四部TD-LTE终端UE4的C-RNTI加扰，指示第四部TD-LTE终端UE4在子帧#9上传输上行PUSCH信号；在子帧#6上传输的下行PDCCH信号以第一部TD-LTE终端UE1的C-RNTI加扰，指示第一部TD-LTE终端UE1在子帧#2上传输上行PUSCH信号；第一部TD-LTE终端UE1、第二部TD-LTE终端UE2、第三部TD-LTE终端UE3、第四部TD-LTE终端UE4会根据各自的C-RNTI检测到属于自己的下行PDCCH信号，解析DCI信息，并依次在子帧#2、子帧#4、子帧#7、子帧#9传输各自的上行PUSCH信号；由此完成了各个TD-LTE终端在指定子帧上传输上行PUSCH信号的过程。
2.根据权利要求1所述的用于同时测试多部TD-LTE终端射频性能的方法，其特征在于：在步骤4)中，数据采集触发信号为在无线帧的子帧#0结束处设置为低电平，此无线帧的子帧#6结束处对应的设置为高电平。
3.一种如权利要求1所述方法的TD-LTE终端测试仪，其特征在于：它包括主控单元、系统模拟器、功率分配单元和射频处理单元，其中，所述系统模拟器和射频处理单元均通过PXI总线连接主控单元，所述系统模拟器与射频处理单元通过LDVS数据接口连接，所述射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元，所述本振单元用于给射频发射单元和射频接收单元提供载波信号以及参考时钟信号，所述功率分配单元通过射频接口连接所述射频处理单元，所述功率分配单元通过PXI总线连接到主控单元；所述功率分配单元用于实现上、下行信号的功率分配，并且将多部TD-LTE终端并联到TD-LTE终端综合测试仪；所述主控单元包括人机接口单元、集成控制单元、信号处理单元和远程控制单元，所述集成控制单元用于控制系统模拟器、射频处理单元和射频切换开关单元；所述信号处理单元用于分析被测TD-LTE终端的射频性能；所述远程控制单元用于TD-LTE终端综合测试仪与计算机进行远程交互，实现TD-LTE终端综合测试仪的远程控制。。
4.根据权利要求3所述的TD-LTE终端测试仪，其特征在于：所述系统模拟器根据3GPP协议对应的协议规范，模拟出物理层协议、数据链路层协议、网络层协议和NAS层协议；所述系统模拟器用于建立和维持TD-LTE终端综合测试仪和被测TD-LTE终端之间的无线承载，便于进行信令连接情况下的射频性能的测试，所述系统模拟器产生下行数字基带I/Q信号，经过LVDS数据接口送到射频发射单元，所述系统模拟器将来自射频接收单元的上行数字基带I/Q信号还原成信令和业务数据。
5.根据权利要求4所述的TD-LTE终端测试仪，其特征在于：所述射频发射单元用来将系统模拟器产生的下行数字基带I/Q信号进行调制和上变频处理后发射给被测TD-LTE终端。
6.根据权利要求5所述的TD-LTE终端测试仪，其特征在于：所述射频接收模块接收被测TD-LTE终端的射频信号，并将该被测TD-LTE终端的射频信号下变频为中频信号，再转化为数字中频信号，然后经正交解调后转换为上行数字基带信号，所述上行数字基带I/Q信号一路经过LVDS接口实时传送到系统模拟器中恢复为信令和数据，以保持信令的连接，另一路缓存在接收模块的数据缓冲区中并经过PXI总线送到主控单元进行射频指标分析。
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