CN101561298A - 微小型智能电子测试仪 - Google Patents

Abstract

本发明公开的微小型智能电子测试仪属微小型电子测试仪器技术领域，该测试仪采用SoC技术由单片电路芯片集成，并由智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件构成，根据不同测试的目的或测试需求，以及测试环境、条件的不断变化的需求，通过虚拟面板的软件编程可设置为不同的恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式的多功能微小型智能电子测试仪，它能置于被测体内并跟随被测体一起运动，完成测试并记录结果，它还具有低功耗的电源分配式供电管理功能，该微小型智能电子测试仪设计先进、结构微小、功能多样、设置完善，它代表着存储式测试仪向微小型化、智能化的发展方向，值得采用和推广。

Description

微小型智能电子测试仪

一.技术领域

本发明公开的微小型智能电子测试仪属微小型电子测试仪器技术领域，具体涉及的是一种微小型智能化的动态参数电子测试仪器。

二.背景技术

存储测试被证明是方便、经济、有效的测试手段。但是，目前测试装置还存在体积较大，功耗过高、测试手段不多等缺陷，许多测试处于测不了、测不准的困境。有些测试还需要将测试系统直接放置到被测体中或被测环境中，这就要求测试仪器具有微小的体积和质量，极高的抗恶劣环境的存活性和可靠性，目前的测试系统由于体积较大给测试应用带来诸多不便。

测试系统由于体积太大不能置于狭小或结构复杂的被测空间内，抗恶劣环境能力弱，试验完毕后，装置损坏，不能得到测试数据；体积、重量偏大对被测对象的重心、重量、转动惯量等有一定的影响，使测试结果不准确，缺乏参考价值。例如要对全弹道测试，弹丸在膛内、飞行和终点三个环境中受到的环境力(三维加速度、转速、振动等)进行实时实况测试，但目前存在测试系统较大，缓冲结构受弹内体积限制无法进行有效防护，致使试验完成而无法回收测试数据。发现在钻地及硬目标侵彻弹药的侵彻过程中PCB板间引线断裂、受剪切力使某些芯片引脚断裂造成系统瘫痪等问题。这些问题导致测试数据捕获率小于70％，对试验费用、设计周期造成很大的浪费。在火炮膛压测试中，要求测试仪器体积必须小于药室容积的2.5％，而国内的火炮膛压测试仪体积为80cm³，不能对小口径火炮进行测试。

目前市面上也有体积较小的存储测试仪器，存储容量、采样频率、动态参数测试数目都是固定数值，即只能对固定变化规律的动态参数进行存储测试。如果测试系统不满足测试环境的要求或者测试环境改变(例如采样频率要求变大)，就得对测试系统重新设计和生产。可见目前的测试系统存在许多不足和问题，测试系统还需要不断改进和完善。

本发明采用SoC技术使测试仪具有微小的体积和质量，克服了目前的测试系统由于体积较大给测试应用带来诸多不便。但是每个SoC单芯片的测试参数限于一定范围，因此采用级联的方式对测试系统进行各种参数(采样频率、存储容量、测试参数)的扩展，扩大了测试范围。

国外的动态参数测试系统在体积方面已向超小型方向发展，不仅可置于弹体内测试，还可置于微型、仿生武器内，进行信息的获取、反馈及实时监控；功能方面更趋于完善，多参数测试成为主流。采用集成方式以单芯片替代多个模块的测试仪已广泛应用于便携式医疗测试和安全监测等领域，但集成芯片像仪器一样进行级联工作还未见报道。

三.发明内容

本发明的目的是：向社会提供这种微小型智能电子测试仪，它能选择在不同的恒定参数测试模式、变参数测试模式、多级联测试模式下工作，而且它还能置于被测体内且能跟随被测体携带一起运动并进行测试。

本发明的技术方案是这样的：这种微小型智能电子测试仪，它有壳体，是一种新结构的微小型智能电子测试仪，技术特点在于：所述的该微小型智能电子测试仪系采用SoC技术由单片电路芯片集成，所述的SoC技术即System-on-Chip技术，能把尽量多的功能电路集成到一个单电路芯片上。该微小型智能电子测试仪由智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件构成，该测试仪集成的智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件包括有：信号采集电路、信号处理电路、存储电路、控制电路、接口电路、电源电路、虚拟面板的编程软件，它们的详细结构是：所述的信息采集电路带有信息采集的各种传感器，所述的信息处理电路包括有：模拟电路、A/D转换电路、时基或基准电路，所述的接口电路是与计算机实现交互联接的接口或机构，还有与计算机实现信息交互或读写的虚拟面板，以及编程软件及其固化软件包。所述的虚拟面板的具体结构是：该虚拟面板包括图形显示区域、图形显示控制工具、工作方式选择区域、工作模式选择区域、数据读取控制区域等，它实质上是一个软件界面或平台，该虚拟面板可以选择设置在辅助设备--外部的计算机上，该测试仪经接口电路联接外部计算机通过虚拟面板写入专用的编程软件，或可写入到固化软件包中。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，技术特点还有：所述的该微小型智能电子测试仪采用SoC技术将其智能电子测试机构及其电路集成在单片电路芯片上，构成能置于被测体内、特别包括构成能跟随被测体一起运动的携带式的微小型智能电子测试仪。若该测试仪能置于被测体内且能跟随被测体携带一起运动并进行测试工作，就需要它是体积小、重量轻、整个测试仪是微小型的。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，技术特点还有：所述的该智能电子测试仪根据测试需要或针对不同测试环境，如不同的测试目的或需要，不同的测试环境及条件，经过虚拟面板的软件编程设置为不同测试模式的智能电子测试仪，所述的不同测试模式选择有：恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，技术特点还有：所述的该智能电子测试仪的级联测试模式结构是：根据测试目的或需要选择不同的级联模式，如有：不同的测试需要，不同测试规模，可以通过测试仪的专用接口，使多个SoC单片电路芯片的结构多级联成扩展的智能电子测试仪。所述的专用接口是根据选择的不同级联模式设计或设置的专门用于测试仪级联的专用接口，它也是接口电路的一种。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，详细技术特点还有：所述的该智能电子测试仪的级联测试模式详细结构是：根据被测参数需求相应选择不同工作模式的级联结构，这些不同工作模式的级联结构选择有：信息采集速率扩展，如不同高、低速率的信息采样；测试通道与测试参数的扩展，如增加测试的通道数目、或形成多参数采集的结构；存储容量的扩展需要，如形成更大容量的存储等等。也包括上述不同工作模式的单种至三种的选择混合、组合构成的多级联的种种扩展结构。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，技术特点还有：所述的该智能电子测试仪的变参数测试模式的结构是：根据测试环境、条件变化的需求，通过虚拟面板的软件编程选择设置不同的参数改变机制，构成不同类型、不同数量的变参数测试方式和机构，形成能置于被测体内的、特别包括能跟随被测体一起运动的携带式的变参数智能电子测试仪。根据测试环境、条件不断变化的情况，被测试的参数甚至多个被测试参数随着测试环境和条件的变化而变化，乃至发生极大差异的变化，这就需要设置不同类型、不同工作方式、不同数量的变参数测试方式和机构与以适应，它们是些转变或转化的电子控制机构及电路。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，详细技术特点还有：所述的该智能电子测试仪的变参数测试模式详细结构有：根据被测试变参数特点，该测试仪选择并设置或构成不同测试需求、不同工作方式的变参数测试模式或机构，这些机构包括采样频率、触发方式，计数模式的选择并设置或构成。所述的不同测试需求包括：不同测试环境、不同测试条件、不同测试要求等。所述的采样频率的选择变化，如对全弹道加速度信号进行测试，膛内、飞行过程、终点三个环境加速度信号频率、幅值相差百倍，甚至上千倍的变化，对应此信号测试情况可选择、采用设置多状态工作模式，采样频率、增益等在三个环境具有不同的参数值，参数值的转换通过触发信号实现。所述的不同的触发方式选择、改变并设置包括内触发、外触发、计数触发等机制。如内触发通过对采集信号的电平值与设置的电平值比较，连续大于或者小于设定次数实现触发。如外触发通过外部信号电平的跳变实现。再如计数触发指内部计数器计满设置点数后触发等。所述的计数模式的选择并设置，如该微小型智能电子测试仪在多次测试使用、或多次重复测试使用、或每次的多重复或多变化测试使用，则涉及计数模式的机构的控制和转变。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，技术特点还有：所述的该智能电子测试仪的恒定参数测试模式结构是：根据测试需求，通过虚拟面板的软件编程选择设置不同测试类型与参数的工作模式和机构，如选择不同的触发方式、或接入不同的传感器可构成测试不同类型、不同数量动态参数的测试仪，便形成能测试不同类型、不同数量动态参数的恒定参数智能电子测试仪。所述的不同的触发方式有：内触发、外触发、计数触发等方式。所述的选择接入不同的传感器，如选择接入压力的、温度的、加速度的等等不同的传感器，也包括同时选择接入不同多个传感器的情况。以上所述的微小型智能电子测试仪的详细结构还有：由多个SoC单片电路芯片的结构多级联成扩展的智能电子测试仪，或/和由选择不同的触发方式、或接入不同的传感器构成的测试不同类型、不同数量动态参数的恒定参数智能电子测试仪，或/和由选择设置不同的参数改变机制，构成不同类型、不同数量的变参数测试方式和机构，形成的变参数智能电子测试仪，特别包括能置于被测体内的、能跟随被测体一起运动的携带式的测试仪，选择以上两种至三种共同混合、组合形成能置于被测体内的、能跟随被测体一起运动的、更多功能的微小型智能电子测试仪。这就是不同的级联测试模式、不同的恒定参数测试模式、不同的变参数测试模式选择两种至三种共同混合、组合形成能置于被测体内的、能跟随被测体一起运动的、更多功能的微小型智能电子测试仪。该智能电子测试仪能够置于被测体内，跟随被测体一起运动，并能自动精确地测量和记录被测体各种动态参数的变化过程。采样结束后，因为仪器带有标准计算机接口，可直接与计算机接口连接进行读数，从而为被测试产品设计、故障分析及数字仿真及验模等提供有效的数据和技术依据。

根据以上所述的微小型智能电子测试仪，详细技术特点还有：所述的该微小型智能电子测试仪各机构的详细结构还有：a.信息处理电路还包括有：触发电路，如内触发、外触发、计数触发等电路。b.计数电路，如包括有触发次数计数器、延迟计数器、地址计数器等形成的计数电路。c.存储电路具有多次或分段存储的、可扩展的存储器，如本测试仪在多次测试使用、或多次重复测试使用、或每次的多重复或多变化测试使用，则涉及多次或分段存储的存储器，还有多级联可扩展的存储器等。d.控制电路包括有：恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式及其多种选择混合、组合构成的多次测试存储或多次测试记录的系列控制电路，这些控制电路可以是门电路、开关、触发、计数等电路。e.电源电路包括电源供电的管理电路，如本测试仪电源进行分配式供电：可有休眠状态、全工作状态、半休眠状态等供电管理机构及其设置的控制电路。

本发明的微小型智能电子测试仪优点有：1.该测试仪采用SoC技术由单电路芯片集成，能够置于被测体内，还能跟随被测体一起运动并进行测试，所以它是微小型化智能电子测试仪；2.该微小型智能电子测试仪能根据需要选择多个SoC单片电路芯片的结构多级联成扩展的智能电子测试仪，这种级联模式是创新性的发明创造，从未见如此结构的报道；3.该微小型智能电子测试仪还能选择在不同的恒定参数测试模式、变参数测试模式、多级联测试模式的单种至三种的选择混合、组合下工作，构成多功能的微小型智能电子测试仪；4.该微小型智能电子测试仪还具有低功耗的电源分配式供电管理等功能；5.该微小型智能电子测试仪设计先进、结构微小、功能多样、设置完善，它代表着存储测试仪器向微小型化、智能化的发展方向。这种微小型智能电子测试仪值得采用和推广。

四.附图说明

本发明的说明书附图共有16幅：

图1为微小型智能电子测试仪总体结构框图；

图2为微小型智能电子测试仪的虚拟面板结构框图；

图3为微小型智能电子测试仪的级联测试模式结构框图；

图4为微小型智能电子测试仪AD级联时钟产生模块电路原理图；

图5为微小型智能电子测试仪通道级联模式SoC芯片的联接示意图；

图6为微小型智能电子测试仪存储器级联模式数据存储片选信号及各种级联模式数据读出片选信号产生电路原理图；

图7为微小型智能电子测试仪恒定参数测试模式结构框图；

图8为微小型智能电子测试仪恒定参数测试模式采样频率模块电路原理图；

图9为微小型智能电子测试仪恒定参数测试模式触发模块电路原理图；

图10为微小型智能电子测试仪变参数测试模式结构框图；

图11为微小型智能电子测试仪变参数测试模式采样频率模块电路原理图；

图12为微小型智能电子测试仪变参数测试模式两种环境触发模块电路原理图；

图13为微小型智能电子测试仪变参数测试模式多次分段记录控制模块电路原理图；

图14为微小型智能电子测试仪的电源管理模块控制功能结构框图；

图15为微小型智能电子测试仪的电源管理模块电路原理图；

图16为微小型智能电子测试仪的虚拟面板编程软件的工作流程框图。

在各图中采用了统一标号，即同一物件在各图中用同一标号。在各图中：1.模拟信号处理电路；2.AD转换电路；3.存储电路；4.接口电路；5.控制电路；6.SoC芯片；7.充电电池；8.高强度壳体；9.虚拟面板；10.计算机；11.专用电缆；12.图形显示控制工具；13.图形显示区域；14.工作方式选择区域；15.工作模式选择区域；16.数据读取控制；17.1M时钟信号；18.晶振提供的4M时钟输入；19～22.分别为移位的1M时钟输入；23、24.级联时芯片工作序号设置字；25.供电电源；26.复位信号；27.模拟信号输入；28.存储器片选信号；29.选定的采样频率信号；30.采样结束信号(为1时采样结束)；31.读存储器时计算机发出的读数信号；32、33.IC₈输出的比较信号(与级联芯片的工作序号比较)；34、35.级联芯片的片选信号；36.触发模块1；37.基准电压；38.模拟信号放大电路；39.模拟信号滤波电路；40.地址计数器；41.晶振；42.采样频率产生模块1；43.负延迟计数器；44.采样时钟使能端；45.500K时钟信号；46.200K时钟信号；47.100K时钟信号；48.50K时钟信号；49.20K时钟信号；50.10K时钟信号；51.1K时钟信号；52.5K时钟信号；53、54、55.采样频率选择端；56、57.级联模式选择端；58.采样频率信号；59.AD转换电路的输出数据；60.一环境内信号触发设定值；61.一环境内信号触发有效信号；62.一环境内、外信号触发选择端(为0外信号触发、为1内信号触发)；63.一环境外触发信号；64.一环境信号触发输出(包括内、外信号触发)；65.采样频率产生模块2；66.触发模块2；67.一环境采样结束信号(为1时结束)；68.二环境采样结束信号(为1时结束)；69.数字电路供电控制信号；70、71、72.分别为三个环境频率选择的使能信号；73～75.一环境采样频率选择控制端；76～78.二环境采样频率选择控制端；79～81.三环境采样频率选择控制端；82～84.测试模式选择的编程字，当82～84分别为000时，85～91全为1表示进入一环境恒定参数测试模式；当82～84分别为010时，86为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以计数触发方式；当82～84分别为011时，87为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以信号触发方式；当82～84分别为100时，88为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以计数触发方式(还可进入三环境以计数触发方式)；当82～84分别为101时，89为0、其余为1时表示进入二环境变参数测试模式，以计数触发方式(还可进入三环境以信号触发方式)；当82～84分别为110时，90为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以信号触发方式(还可进入三环境以计数触发方式)；当82～84分别为111时，91为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以信号触发方式(还可进入三环境以信号触发方式)；92.二环境计数使能端；93.计数进入二环境的12位计数器计数值，94为93的最高位；95.计数进入二环境的6位计数器的计数值，96～99为95的高四位；100、101.计数进入二环境的计数值选择端；102.二环境信号触发输出(包括内、外信号触发)；103.二环境信号触发有效信号；104.二环境计数触发有效信号；105.二环境外信号触发；106.二环境的内外信号触发选择端(为0外信号触发，为1内信号触发)；107.二环境内信号触发设定值；108.二环境内信号触发有效信号；109.多次触发信号；110.多次触发的清零信号；111.受109控制的触发信号；112.111信号下降沿的次数计数值的最高第4位，114为低三位；113.分段存储区域记录满信号(高有效)；115.十九位地址信号；116.电源管理模块；117.上电信号；118.供给AD转换电路和存储电路的电源；119.供给基准、放大电路、滤波电路的电源；120.晶振起振的控制信号；121.接地端；122.模拟电路供电关断信号；123.数字电路供电控制信号；124.模拟电路供电控制信号；125.进入虚拟面板界面；126.工作模式选择；127.是否级联？128.是否恒定参数测试模式？129.工作方式选择；130.是否读数？131.读取数据并图形显示；132.结束；133.是；134.否；135.确定芯片工作顺序字；136.触发方式选择；IC₁～IC₁₀₈均为集成电路块，这些集成电路块均系SoC技术集成在电路芯片上，制造方法是：按其集成电路功能自行设计并委托集成电路厂家定制生产。

五.具体实施方案

本发明的微小型智能电子测试仪非限定实施例如下：

实施例一.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1、图2、图13～图16联合示出，是一种微小型智能化电子测试仪，该例的微小型智能电子测试仪系采用SoC技术由单片电路芯片集成，所谓SoC技术即System-on-Chip技术，能把尽量多的功能电路集成到一个单电路芯片上。该例是SoC单电路芯片构成的测试仪。

实施例一.1.该例的微小型智能电子测试仪采用SoC技术由单片电路芯片集成，该例集成的单片电路芯片由智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件构成，图1所示的是该例的微小型智能电子测试仪总体结构示意图，图中包括有该测试仪集成的智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件，其中：1为模拟信号处理电路，2为AD转换电路，3是存储电路，4是接口电路，5是控制电路，6为集成的SoC芯片，7是充电电池，8是高强度壳体，9是虚拟面板，还有信号采集电路、电源电路、时基或基准电路、触发电路、计数电路等。存储电路3可具有多次或分段存储的、可扩展的存储器，如在多次测试中使用、或多次重复测试使用、或每次的多重复或多变化测试使用。信息采集电路带有信息采集的传感器。触发电路包括内信号触发、外信号触发、计数触发等电路。计数电路如包括有触发次数计数器、延迟计数器、地址计数器等。本测试仪的接口电路4包括与计算机10实现交互联接的接口或机构，还有与计算机实现信息交互或读写的虚拟面板9，以及编程软件及其固化软件包，虚拟面板9的详细结构框图示于图2中：12为图形显示控制工具，13为图形显示区域，14为工作方式选择区域，15为工作模式选择区域，16为数据读取控制等，它实质上是一个软件界面或平台。如图1所示，该虚拟面板9可以选择设置在辅助设备--外部的计算机10上，该测试仪经接口电路4联接外部计算机10通过虚拟面板9写入专用的编程软件，如采用编程字等方式，也可写入到固化软件包中。图16示出微小型智能电子测试仪的虚拟面板编程软件的工作流程框图，在图中：125为进入虚拟面板界面，126为工作模式选择，127为是否级联？128为是否恒定参数测试模式？129为工作方式选择，130为是否读数？131为读取数据并图形显示，132为结束，133为是，134为否，135为确定芯片工作顺序字，136为触发方式选择。图15是微小型智能电子测试仪的电源管理模块电路原理图，图中：IC₁₀₃、IC₁₀₄均是带预置数的触发器，IC₁₀₅、IC₁₀₇、IC₁₀₈均是非门集成电路块，IC₁₀₆是二输入或门集成电路块，它们组成的触发-门控电路并共同构成了本测试仪的电源管理模块电路，是电源管理的系列门控电路，以该电路为主构成了图14中的电源管理模块116。图14所示的是本测试仪的电源管理模块控制功能结构框图，图中：输入电源管理模块116的有：25供电电源、26复位信号、30采样结束信号(为1时采样结束)，121接地端、122为模拟电路供电关断信号，上电信号117相当于25供电电源的供电开关，电源管理模块116的输出有：123数字电路供电控制118供给AD转换电路2和存储电路3等的电源，124模拟电路供电控制119供给基准电压37、模拟信号放大电路38、模拟信号滤波电路39等的电源，120晶振起振供电控制供给晶振41的电源。本测试仪电源采用分配式供电：可有休眠状态、全工作状态、半休眠状态等供电管理机构及其设置的控制机构。图14、15中主要是系列门控电路：其中在接通电源后(上电信号117)只有各控制电路(IC₁₀₃、IC₁₀₄等)自身工作，其它电路处于休眠状态，该测试仪处于低功耗的休眠态，休眠状态下低功耗电流≤50μA。当测试传感器接受测试信号27后(27是模拟信号输入)，系列门控电路控制该测试仪所有电路模块全部工作，接通数字电路供电控制信号123，经118给AD转换电路2和存储电路3等供电，接通模拟电路供电控制信号124，经119给基准电压37、模拟信号放大电路38、模拟信号滤波电路39等供电，接通晶振起振的控制信号120给晶振41等供电。测试仪进入所有电路全部工作状态，全工作状态下功耗电流≤20mA。测试采样结束后，采样结束信号30(为1时采样结束)输入IC₁₀₆，使IC₁₀₆输出模拟电路供电关断信号122，控制124经119停止给基准电压37、模拟信号放大电路38、模拟信号滤波电路39等供电，控制120给晶振41停止供电，关断模拟电路等的电源，只有数字电路部分工作，系列门控电路使测试仪进入待读数半休眠态，等待计算机发出读数命令，半休眠状态或待读数状态下功耗电流≤800μA。该例测试仪的特点是：采用SoC技术将其智能电子测试机构及其电路集成在单片电路芯片6上，构成能置于被测体内的微小型智能电子测试仪，特别是可构成能跟随被测体一起运动的携带式的微小型智能电子测试仪。该例的测试仪测试工作过程是：动态参数的非电量信号经由测试传感器转变为电信号27输入到模拟电路，经滤波放大输入到A/D模块把模拟信号转换为数字信号，然后传给存储器存储，计算机通过接口电路对数据进行读取。该例的测试仪通过单片电路芯片6和专用编程软件控制信号采集电路、模拟信号处理电路1、AD转换电路2、触发电路、计数电路、存储电路3、接口电路4、控制电路5等组成一个多次测试存储或多次测试记录的机构，该机构的多次测试存储或多次测试记录结构可借助图13的多次分段记录控制模块电路来说明，因为单片电路芯片6中的和变参数测试模式下的多次分段记录模块电路基本上是一样的，在图13中：25是供电电源，26是复位信号，30是采样结束信号(为1时采样结束)，58是采样频率信号，IC₈₉、IC₉₁、IC₉₂、IC₁₀₀均是非门集成电路块，IC₉₆、IC₁₀₁均是二输入或门集成电路块，IC₉₃是三输入或门集成电路块，IC₉₀、IC₉₅、IC₉₇、IC₉₈均是D触发器集成电路块，IC₉₄是56K计数器集成电路块，IC₉₉是十九位计数器集成电路块，IC₁₀₂是四位计数器集成电路块，由IC₈₉～IC₉₆等组成多次触发信号控制电路，由IC₈₉～IC₁₀₂等组成8次分段记录控制电路的地址及负延迟模块，115是十九位地址信号输出。该机构中的计数电路是由触发次数计数器IC₁₀₂、延迟计数器IC₉₄、地址计数器IC₉₉等为主构成的触发次数计数电路、延迟计数电路、地址计数电路。IC₉₀、IC₉₅、IC₉₇、IC₉₈等的触发电路输入端109与信息采集电路的输出端联接(经接口电路4)，其输出端110～114与各计数电路联接。控制电路是不同次数的分次记录的控制电路，该电路由触发次数计数器IC₁₀₂作全过程的启止控制或开关，由延迟计数器IC₉₄作分次记录控制或开关，由地址计数器IC₉₉作每次记录的信息写入控制或开关，靠存储电路3的存储器分次对应设置的存储区段记录或存储信息。这种情况下存储电路3及其存储器的结构是：根据设定的多次测试次数(即触发次数)，存储电路3的存储器对应设置有与触发次数相等的存储区段，如设定的触发次数为八次，则存储器对应设置有与触发次数相等的八个存储区段。根据设定好的重触发次数即多次使用并记录的次数，该例的测试仪将整个存储器的存储空间512k均匀的分成8个(或者16个或者32个)大小相同的存储范围，不同次数的重触发模式分别对应一种固定的负延迟，对每次重触发信号来之前的一段信号进行记录。该例具体实施方案是：以8次重触发为例，设计三个计数器，分别为地址计数器IC₉₉、负延迟计数器IC₉₄和触发次数计数器IC₁₀₂，每次的存储范围或存储空间为64k(将整个存储器的存储空间512k均匀的分成8个)，该例的测试仪多次测试存储或多次测试记录的工作过程为：接通电源，给测试仪供电，测试仪进入低功耗模式，给上电信号117，测试采样(模拟)电路1、AD转换电路2、存储器电路3等全部工作，该测试仪进入待触发状态，待测试传感器接受测试信号即输入模拟信号后27，如第一次触发信号到来，经109端输入通过D触发器IC₉₀、111端等，使触发次数计数器IC₁₀₂、负延迟计数器IC₉₄、地址计数器IC₉₉等均开始有条不紊地工作，在存储电路3及其存储器的第一个存储空间(如0到64K-1存储范围)进行测试记录工作。当收到采样结束信号30(为1时采样结束)，经IC₉₃负延迟计数器IC₉₄(或记满)设定的点数(56K)后(即负延迟8K)，通过多次触发信号的清零信号110、多次触发信号下降沿的次数计数值的112与114等输出结束信号给IC₉₉、IC₁₀₂，第一次测试结束，还从地址计数器IC₉₉的115十九位地址端输出信号，使存储电路3及其存储器的存储范围直接转到第2个存储空间的起始位置(对应第二个64K的地址)在第2个存储区间(64K到128K-1)，等待第2次触发信号的到来，与此同时，触发次数计数器IC₁₀₂加1计数，至此该例测试仪完成了第一次测试存储或第一次测试记录的工作过程。测试仪等待第二次触发命令。当该例的测试仪第二次测试存储或第二次测试记录的模拟信号27输入，触发信号109来到以后，该测试仪重复第一次的测试存储或测试记录过程，当触发次数计数器记满所选模式对应的次数--8次时，分段存储区域记录满信号113(高有效)使地址计数器IC₉₉记满停止计数，存储电路3及其存储器的整个存储空间(512K)对应的存储范围也存储满，此时采样结束信号30变为1，采样结束，该例的测试仪全部采样测试结束，测试仪进入待读数态。这样，测试仪的存储电路3及其存储器的就将每次触发信号到来以前的8K信号和到来以后的56K信号完整的记录和保持下来了，等待计算机发出读数命令，读取测试记录的数据。该例的测试仪可将整个存储电路及其存储器3的存储空间选择为256k、或1024k、或2048k、或4096k、或8192k，并可选择均匀的分成4个、或16个、或32个、或64个、或128个大小相同的存储范围，该例的测试仪通过专用编程软件控制触发电路(IC₉₀、IC₉₅、IC₉₇、IC₉₈等)、计数电路(IC₉₄、IC₉₉、IC₁₀₂等)、存储电路3、接口电路4、控制电路5功能联接组成4次、或16次、或32次、或64次、或128次测试存储或测试记录的机构，这些机构的结构、工作机制、工作过程、测试存储或测试记录的结果，同于上述的内容，不必重述。

实施例一.2.该例能置于被测体内的微小型智能电子测试仪经过虚拟面板的软件编程能设置为不同测试模式的智能电子测试仪，所述的不同测试模式选择有：恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式。其一，实施例一.1.中叙述了一个采用SoC技术由单片电路芯片6集成(未级联)的微小型智能电子测试仪。其二，该例采用SoC技术由单片电路芯片6集成的测试仪，其结构如同实施例一.1.中所述的，根据测试需求，通过虚拟面板的软件编程可以选择设置不同测试类型与参数的工作模式和机构，如选择不同的触发方式、或接入不同的传感器可构成测试不同类型、不同数量动态参数的恒定参数测试模式的微小型智能电子测试仪。例如不同的触发方式有：内信号触发、外信号触发、计数触发等方式，例如选择接入压力的、温度的、加速度的、速度的、位置的、光的、磁的、声的、气味的等等不同的传感器，也包括同时选择接入不同多个传感器的情况，便形成能测试不同类型、不同数量动态参数的恒定参数智能电子测试仪。该例测试仪的测试机构与结构、工作机制、工作过程、测试存储或测试记录的结果，同于实施例一.1.中所述的内容，不必重述。

实施例一.3.该例采用SoC技术由单片电路芯片6集成的测试仪，其结构如同实施例一.1.中所述的，根据测试环境、条件变化的需求，通过虚拟面板的软件编程选择设置不同的参数改变机制，如通过虚拟面板以编程字方法写入软件，构成不同类型、不同数量的变参数测试方式和机构，形成能置于被测体内变参数测试模式的智能电子测试仪。根据测试环境、条件不断变化的情况，如钻探或油井，再如飞弹在膛内、飞行过程、击中目标等测试过程，就需要设置不同类型、不同工作方式、不同数量的变参数测试方式和机构与以适应，它们是些转变或转化的电子控制机构、电路及其软件。这些机构包括采样频率、触发方式，计数模式的选择并设置或构成。关于采样频率的选择变化，如对全弹道加速度信号进行测试，膛内、飞行过程、侵彻目标三个环境被测试参数随着测试环境和条件的变化而变化，甚至发生极大差异的变化，加速度信号频率、幅值相差百倍，甚至上千倍的变化，对应这些测试情况可选择、采用设置多状态工作模式，采样频率、增益等在三个环境具有不同的参数值，参数值的转换通过触发信号实现。再如不同的触发方式选择、改变并设置包括内信号触发、外信号触发、计数触发等机制。如内信号触发通过对采集信号的电平值与设置的电平值比较，连续大于或者小于设定次数实现触发。如外信号触发通过外部信号电平的跳变实现。再如计数触发指内部计数器计满设置点数后触发等。所述的计数模式的选择并设置，如该微小型智能电子测试仪在多次测试使用、或多次重复测试使用、或每次的多重复或多变化测试使用，则涉及计数模式的机构的控制和转变。该例测试仪的测试机构与结构、工作机制、工作过程、测试存储或测试记录的结果，同于实施例一.1.、2.中所述的内容，不必重述。

实施例二.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图3、图6、图14～图16联合示出，图1、图2、图14～图16已在实施例一中说明。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的测试仪给出一个级联测试模式结构：可多级联成存储容量扩展的存储器。在该机构中多级联扩展的存储电路3及其存储器的结构是：根据测试目的或需要选择不同的级联模式，如有：不同的测试需要，不同测试规模，可以通过测试仪的专用接口，使多个单片电路芯片6的结构多级联成扩展的智能电子测试仪。所述的专用接口是根据选择的不同级联模式，设计或设置的专门用于测试仪级联的专用接口，它也是接口电路的一种。该例给出一个需要存储容量的扩展，形成更大容量存储的级联测试模式，如形成多级联成微小型智能电子测试仪之扩展结构的实施例，该例的多级联结构如图3所示。图3示出的是存储器级联模式下SoC集成电路芯片6的连接示意图，图3中：由SoC集成芯片6多片级联扩展构成微小型智能电子测试仪8，还有电池电源7，靠外辅计算机10、虚拟面板9和电缆11等编写入专用的编程软件、读取测试记录数据。图6所示的是该例的测试仪存储器级联模式下数据存储片选信号(及各种级联模式数据读出片选信号)产生电路原理图，图中：23、24为级联时芯片工作序号设置字，28是级联的SoC芯片存储器片选信号输出，29是选定采样频率信号，30是采样结束信号(为1时采样结束)，31是计算机发出读存储器的读取信号，32、33为IC₈输出的比较信号(用来和级联的SoC芯片工作序号比较)，34、35.级联SoC芯片的片选信号。IC₆是二输入或非门集成电路块，IC₇是二输入或门集成电路块，IC₈是2M计数器，是多级联扩展的存储电路3及其存储器，每计满512K时输出，输出值分别为00、01、10、11，IC₉、IC₁₀均为比较器，它们组成两级比较电路，比较器IC₉将输入值32、33与设定值23、24进行比较，相同时将输入值32、33输出，不同时输出高阻态；比较器IC₁₀将输入值34、35与设定值23、24再进行比较，相同时输出1，不同时输出0。最后还要指出：根据测试需要可以采用集成芯片6两片、或三片、或四片、或五片、或六片、或七片、或八片、或甚至十片级联扩展构成不同存储容量微小型智能电子测试仪8，该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一中所述的，不再重述。

实施例三.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1、图2、图5、图6、图14～图16联合示出，图1、图2、图6、图14～图16已在实施例一、实施例二中说明。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一、实施例二的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的微小型智能电子测试仪的级联测试模式结构是：采用通道级联模式，图5所示的是通道级联模式下SoC集成芯片6的联接示意图，在图5中：由SoC集成芯片6三片级联扩展测试通道，构成微小型智能电子测试仪8，其中6-11意义同前，已经叙述，传感器采集的信号27选择为不同的三组，意味着采集信号的传感器可有不同的三组共十二个，如它们选择是压力的、温度的、加速度的、速度的、位置的、光的、磁的、声的、气味的等等传感器，它们可以是上述传感器中选择任四个一组组合成的多状态、多参数工作模式，选择不同传感器分别联接并输入给SoC集成芯片6，三片级联扩展十二通道构成(或形成多参数采集)的该例测试仪8，也不排除选择接入不同的任多个(任两个以上)上述传感器构成的不同工作模式的级联结构，形成测试通道或测试参数的扩展，如增加测试的通道数目(至少两个)、或形成多参数(至少两个)采集的多状态、多参数工作模式结构。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一、实施例二中所述的，不再重述。

实施例四.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图4、图14～图16联合示出，图1～图3、图14～图16已在前面的实施例中说明。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一～实施例三的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的微小型智能电子测试仪的级联测试模式结构是：采用AD级联模式，该例选择的AD多级联模式是为了提高单个芯片的最高采样频率设计的，图4所示的是微小型智能电子测试仪的AD级联时钟产生模块电路原理图，图4中：17为1M时钟，18为晶振提供的4M时钟输入，19～22分别为移位的1M时钟输入，23、24是级联时芯片工作序号设置字，25是供电电源。IC₁是四分频器集成电路块，IC₂～IC₄是D触发器集成电路块(上升沿触发)，它们共同组成分频、移位(因为19-22是对分频1M信号的移位电路)电路。IC₅是四选一数据选择器集成电路块，它形成频选电路。图4所示的采样频率产生电路的优点是：1.AD多级联模式(实际上是四级联)的好处是级联后测试仪的采样频率提高4倍，由1M时钟变为4M时钟。2.可为级联的多个SoC集成芯片6提供不同时钟(分别移位或滞后的)的采样频率信号，以便各级联的SoC集成芯片6及其测试传感器使用不同时序的频率采集信号。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例三中所述的，不再重述。

实施例五.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图9、图14～图16联合示出。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一～实施例四的微小型智能电子测试仪不同点有：1.该例的微小型智能电子测试仪具有恒定参数测试模式的结构：通过虚拟面板的软件编程选择设置不同测试类型与参数的工作模式和机构，并选择不同的触发方式、或接入不同的传感器，可构成测试不同类型、不同数量动态参数的测试仪，便形成能测试不同类型、不同数量动态参数的恒定参数智能电子测试仪。所述的不同的触发方式有：内信号触发、外信号触发、计数触发等方式。所述的选择接入不同的传感器，如选择接入压力的、温度的、加速度的、速度的、位置的、光的、磁的、声的、气味的等等传感器，它们可以是选择上述传感器中任一个构成的、或任多个上述传感器组合成的恒定参数测试模式的结构，也不排除同时选择接入不同的多个其它测试传感器共同构成的恒定参数测试模式的结构。图1～图6、图14～图16已在前面的实施例中说明，图7示出微小型智能电子测试仪恒定参数测试模式结构方框图，图7中：2为AD转换电路，3为存储电路，4为接口电路，36是触发模块1，37为基准电压，38是模拟信号放大电路，39是模拟信号滤波电路，40是地址计数器，41是晶振电路，42为采样频率产生模块1，43是负延迟计数器。图8示出微小型智能电子测试仪恒定参数测试模式采样频率模块电路原理图，图8中：17是采样频率产生模块的1M时钟信号，26是复位信号，28是级联时SoC芯片内存储器片选信号，29是选定的采样频率时钟信号，44是采样时钟的使能端，45为500K时钟信号，46为200K时钟信号，47为100K时钟信号，48.为50K时钟信号，49为20K时钟信号，50为10K时钟信号，51.为1K时钟信号，52.为5K时钟信号，53、54、55是采样频率时钟选择端，56、57是级联模式选择端，58是采样时钟信号输出(存储器级联或其它模式时)。IC₁₁、IC₁₃、IC₁₄、IC₁₆、IC₁₇均为二分频器，IC₁₂、IC₁₅、IC₁₈均为五分频器，IC₁₉为8选1数据选择器，IC₂₀～IC₂₄、IC₂₉均为二输入或门，IC₂₅、IC₂₇均为非门，IC₂₆、IC₂₈、IC₃₀均为二输入与门，由IC₁₁～IC₁₈等组成系列分频电路，IC₁₉为主构成频选电路，IC₁₉、IC₂₅～IC₃₀共同组成多级联+恒定参数测试模式下的采样频率时钟选择电路，图8的电路结构就是图7中的42--采样频率产生模块1的实例。图9示出微小型智能电子测试仪恒定参数测试模式触发模块电路原理图，图9中：25是电池供电端，26为复位信号，58是采样时钟信号，59为AD转换电路的输入信号，60为一个环境下内信号触发设定值的输入，61为内信号触发有效信号(为1时表示一个环境下内信号触发连续比较等于8次)，62为一个环境下内、外信号触发选择端(为0外信号触发，为1内信号触发)，63为外触发信号(一个环境下外信号触发方式有效)，64为触发输出信号(一个环境下信号触发的方式有效(包括内、外信号触发)。IC₃₁为五位比较器，IC₃₂、IC₃₆均为非门，IC₃₃为二输入或门，IC₃₄为加法器，IC₃₅为三输入与门，IC₃₇为二选一数据选择器，IC₃₈为D触发器。由IC₃₁～IC₃₅组成内信号触发多级比较电路，由IC₃₅～IC₃₈组成内、外信号触发多级比较电路，图9的电路结构就是图7中的36--触发模块1的实例，图8、图9都是恒定参数测试模式下的工作方式的功能电路之一。以图7为基本结构的恒定参数测试模式结合图1～图9、图14～图16等所示的SoC集成芯片原始的或单元的结构，可以根据测试需求，通过虚拟面板的软件编程选择设置不同测试类型与参数的工作模式和机构，如选择不同的触发方式、或接入不同的传感器可构成测试不同类型、不同数量动态参数的测试仪，便形成能测试不同类型、不同数量动态参数的恒定参数智能电子测试仪。2.该例的智能电子测试仪还可根据测试目的或需要，选择与不同的级联模式智能电子测试仪进行再组合，如根据不同的测试需要、不同测试规模、可以通过测试仪的专用接口，使多个单片电路芯片的测试仪多级联成的智能电子测试仪扩展结构和该例的恒定参数微小型智能电子测试仪重组合成新结构。该例的微小型智能电子测试仪各机构的详细结构还有：控制电路包括有：恒定参数测试模式、级联测试模式及其多种选择混合、组合构成的多次测试存储或多次测试记录的系列控制电路，这些控制电路可以是门电路、开关、触发、计数等电路。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例四中所述的，不再重述。

实施例六.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图6、图10～图16联合示出。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一～实施例五的微小型智能电子测试仪不同点有：1.该例的的智能电子测试仪是个变参数测试模式的微小型智能电子测试仪，根据测试环境、条件变化的需求，通过虚拟面板的软件编程选择设置不同的参数改变机制，构成不同类型、不同数量的变参数测试方式和机构，形成能置于被测体内的变参数智能电子测试仪。根据测试环境、条件不断变化的情况，被测试的参数甚至多个被测试参数随着测试环境和条件的变化而变化，甚至发生极大差异的变化，这就需要设置不同类型、不同工作方式、不同数量的变参数测试方式和机构与以适应，它们是些转变或转化的电子控制机构及其电路。该例的变参数微小型智能电子测试仪详细结构有：根据被测试参数特点，该测试仪选择、设置、或构成不同测试需求、不同工作方式的变参数测试模式或机构，这些机构包括采样频率、触发方式，计数模式的选择并设置或构成。所述的不同测试需求包括：不同测试环境、不同测试条件、不同测试要求等。所述的采样频率的选择变化，如对全弹道加速度信号进行测试，膛内、飞行过程、终点三个环境加速度信号频率、幅值相差百倍，甚至上千倍的变化，对应此信号测试情况可选择、采用、设置多状态工作模式。所述的不同的触发方式选择、改变并设置包括内信号触发、外信号触发、计数触发等机制。如内信号触发通过对采集信号的电平值与设置的电平值比较，连续大于或者小于设定次数地实现触发。如外信号触发通过外部信号电平的跳变实现。再如计数触发指内部计数器计满设置点数后触发等。所述的计数模式的选择并设置，如该微小型智能电子测试系统在多次测试使用、或多次重复测试使用、或每次的多重复或多变化测试使用，则涉及计数模式的机构的控制和转变。图10示出该例的微小型智能电子测试仪变参数测试模式基本结构方框图，图10中：2为AD转换电路，3为存储电路，4为接口电路，37为基准电压，38是模拟信号放大电路，39是模拟信号滤波电路，40是地址计数器，41是晶振电路，43是负延迟计数器，65是采样频率产生模块2，66是触发模块2。图11示出微小型智能电子测试仪变参数测试模式采样频率模块电路原理图，该图即是图10中的65--采样频率产生模块2的实例，图11中：17为采样频率产生模块的1M时钟，29为选定的采样频率信号，45是500K时钟信号，46.是200K时钟信号，47是100K时钟信号，48是50K时钟信号，49是20K时钟信号，50是10K时钟信号，51是1K时钟信号；53、54、55.采样频率选择端，67为一环境采样结束信号(为1时结束)，68为二环境采样结束信号(为1时结束)，69为数字电路供电控制输入信号，70、71、72分别为三环境频率选择的使能信号，73～75为一环境采样频率选择控制端，76～78为二环境采样频率选择控制端，79～81为三环境采样频率选择控制端。IC₁₉是8选1数据选择器，IC₃₉、IC₄₀、IC₄₅～IC₅₃均是二输入与门，IC₄₁、IC₄₂均是非门，IC₄₃是二输入或非门；IC₄₄、IC₅₄～IC₅₆均是三输入或门，IC₅₇～IC₅₉均是二输入与门。由IC₃₉～IC₄₄组成三种环境变换的采样使能信号(或控制信号、或开关信号)电路，由IC₄₅～IC₅₉组成软件控制的三种环境变换的采样信号电路，由IC₁₉构成三种环境变换采样频率(8种选1)的选择电路，三种环境变换下选择(8选1)的采样频率信号由29端输出。图12示出微小型智能电子测试仪变参数测试模式两种环境使用的触发模块电路原理图，该图即是图10中的66一触发模块2的实例，图12中：25为电源供电，26是复位信号，58是采样频率信号，59是AD转换电路的输出数据，67是一环境采样结束信号(为1时采样结束)，68是二环境采样结束信号(为1时采样结束)，82～84为测试模式选择的编程字，当82～84分别为000时，85～91全为1表示进入一环境恒定参数测试模式；当82～84分别为010时，86为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以计数触发方式；当82～84分别为011时，87为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以信号触发方式；当82～84分别为100时，88为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以计数触发方式(还可进入三环境以计数触发方式)；当82～84分别为101时，89为0、其余为1时表示进入二环境变参数测试模式，以计数触发方式(还可进入三环境以信号触发方式)；当82～84分别为110时，90为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以信号触发方式(还可进入三环境以计数触发方式)；当82～84分别为111时，91为0、其余为1表示进入二环境变参数测试模式，以信号触发方式(还可进入三环境以信号触发方式)，92二环境计数使能端，93为计数进入二环境的12位计数器计数值，94为93的最高位，95为计数进入二环境的6位计数器的计数值，96～99为95的高四位，100、101为计数进入二环境的计数值选择端；102为二环境信号触发输出(包括内、外信号触发)，103为二环境信号触发有效信号，104为二环境计数触发有效信号，105为外二环境外信号触发，106为二环境的内外信号触发选择端(为0外信号触发，为1内信号触发)，107为二环境的内信号触发设定值，108为二环境内信号触发有效信号。IC₆₀是3-8译码器，IC₆₁～IC₆₇、IC₇₁、IC₈₁、IC₈₆均是非门，IC₆₈、IC₈₈均是三输入与门，IC₇₆、IC₇₇均是三输入与非门，IC₆₉、IC₇₀、IC₇₂、IC₇₉、IC₈₇均是二输入或门，IC₇₃是12位计数器，IC₇₄是6位计数器，IC₇₅是四选一数据选择器，IC₇₈是二输入与门，IC₈₀、IC₈₃均是D触发器，IC₈₂是二选一数据选择器，IC₈₄是加法器，IC₈₅是五位比较器。由IC₆₀为主、以及IC₆₁～IC₆₇等组成多种工作方式选择电路，当82、83、84输入分别是000表示选择参数测试模式在一种环境下测试工作方式，使85～91输出全为1控制测试仪进入一种环境下测试工作(如同恒定参数测试模式)，触发方式有内、外信号触发测试方式工作。当82、83、84输入分别是010、100、101表示选择在两种环境下变参数测试模式进行工作，使86、88、89任一个输出为0使测试仪进入两环境变参数测试模式下的计数触发测试工作方式，该计数触发测试工作方式先同时分两路进行，86、88、89任一个输出为0时，一路经过由IC₆₈三输入与门输出为0，又67、68均输入为0控制IC₇₃、IC₇₄等组成的计数触发电路工作，首先12位地址计数器IC₇₃工作，每计满2¹²时输出93的最高位94跳变一次，从而启动6位地址计数器IC₇₄工作，当95-96端为1表示计数值为2¹²2³＝＝32K、当95-97端为1表示计数值为2¹²2⁴＝＝64K、当95-98端为1表示计数值为2¹²2⁵＝＝128K、当95-99端为1表示计数值为2¹²2⁶＝＝256K；86、88、89任一个输出为0时，另一路经过由IC₇₆三输入与非门输出为1，两路同时控制IC₇₅四选一数据选择器对32K、64K、128K、256K四个计数值作四选一输出，四个计数值的选择由100端、101端决定：两端为00、IC₇₅选择计数值32K，两端为01、IC₇₅选择计数值64K，两端为10、IC₇₅选择计数值128K，两端为11、IC₇₅选择计数值256K，选择的计数值由104端输出。若当82、83、84输入分别是011、110、111表示选择在两种环境下变参数测试模式工作，87、90、91任一个输出为0控制测试仪进入两环境变参数测试模式下的内、外信号触发测试工作方式，该内、外信号触发测试工作方式，使87、90、91任一个输出为0经过由IC₇₇三输入与非门输出为1，该信号和102端触发信号经二输入与门IC₇₈产生触发信号103，当106端输入为0外信号触发、为1内信号触发。由IC₈₄～IC₈₈组成内信号触发多级比较电路，由IC₈₁～IC₈₃、IC₈₈组成内、外信号触发多级比较电路。由IC₇₉、IC₈₀组成触发输出电路，67端为其触发信号输出端。还要指出的是：如果把IC₆₈变成二输入与门，IC₇₆、IC₇₇、变成二输入与非门，图12所示的电路结构可设计为微小型智能电子测试仪变参数测试模式三种环境下使用的触发模块电路原理图，这样微小型智能电子测试仪可在三种环境的变参数测试模式下使用和工作。图13示出微小型智能电子测试仪变参数测试模式多次分段记录控制模块电路原理图，已在实施例一中说明。本例列举了图10的微小型智能电子测试仪变参数测试模式基本结构以及图11～图13等变参数测试模式下的一些测试功能电路的结构，已简略说明该例的测试仪可选择、设置或构成不同工作方式的变参数测试模式或机构，结合图1～图6、图14～图16的结构，这些可能的选择及其组合能形成更多功能的微小型智能电子测试仪。2.由多个单片电路芯片的结构多级联成扩展的智能电子测试仪和该例的变参数微小型智能电子测试仪重组合成新测试仪。两者共同选择并组合构成能置于被测体内的级联+变参数智能电子测试仪，该例的测试仪可选择并设置或构成不同工作方式的变参数测试模式或机构，这些机构包括采样频率、触发方式，计数模式的选择并设置或构成。如通过级联扩展通道构成(或形成多参数采集)的需要，或根据需要选择接入压力的、温度的、加速度的、速度的、位置的、光的、磁的、声的、气味的等等不同的传感器，则需要选择变化采样的频率，可选择、采用、设置多状态工作模式；可选择、改变并设置不同的触发方式，包括内信号触发、外信号触发、计数触发等机制；可选择并设置不同的计数模式，如多次测试使用、或多次重复测试使用、或每次的多重复或多变化测试使用，需涉及不同计数模式的机构及其控制和转变等等。这些可能的选择及其组合能形成更多功能的微小型智能电子测试仪。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例五中所述的，不再重述。

实施例七.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图16联合示出。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一～实施例六的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的微小型智能电子测试仪构成跟随被测体一起运动的携带式测试仪，该例能置于被测体内的智能电子测试仪可以是实施例一～实施例六中所述的测试仪之任两个、或任多个选择或组合成、或直至六个共同构成的不同微小型智能电子测试仪。该微小型智能电子测试仪能够置于被测体内，或可跟随被测体一起运动，并自动精确的测量和记录被测体各种动态参数的变化过程。采样结束后，因为该测试仪带有标准计算机接口，可直接与计算机并口连接进行读数，从而为被测试产品设计、故障分析及数字仿真及验模等提供有效的数据和技术依据。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例六中所述的，不再重述。

实施例八.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图6、图14～图16联合示出。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一～实施例七的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的微小型智能电子测试仪是由实施例二～实施例四中所述的级联测试仪之任两个选择或组合成、或直至三个共同构成的不同级联模式混合的微小型智能电子测试仪。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例七中所述的，不再重述。

实施例九.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图9、图14～图16联合示出。该例的微小型智能电子测试仪与实施例二～实施例八的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的微小型智能电子测试仪是由实施例二～实施例五中所述的恒定参数、级联测试模式的测试仪之任两个、或任三个选择或组合成、或直至四个共同构成的不同的综合微小型智能电子测试仪。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例八中所述的，不再重述。

实施例十.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图6、图10～图16联合示出。该例的微小型智能电子测试仪统与实施例一～实施例九的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的微小型智能电子测试仪是由实施例二～实施例四、实施例六中所述的变参数、级联测试模式的测试仪之任两个、或任多个选择或组合成、或直至四个共同构成的不同的综合微小型智能电子测试仪。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例九中所述的，不再重述。

实施例十一.微小型智能电子测试仪

该例的微小型智能电子测试仪具体结构由图1～图16联合示出。该例的微小型智能电子测试仪与实施例一～实施例十的微小型智能电子测试仪不同点有：该例的微小型智能电子测试仪是由级联测试模式、恒定参数测试模式、变参数测试模式等不同测试模式之任两种选择混合或组合成、或至三种共同构成的综合微小型智能电子测试仪，这些可能的组合形成更多功能的、更复杂结构的微小型智能电子测试仪。该例的微小型智能电子测试仪其余未述的，全同于实施例一～实施例十中所述的，不再重述。

Claims (7)

1.一种微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的该微小型智能电子测试仪系采用SoC技术由单片电路芯片集成，该测试仪由智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件构成。

2.根据权利要求1所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的该微小型智能电子测试仪采用SoC技术将其智能电子测试机构及其电路集成在单片电路芯片上构成能置于被测体内的、特别包括构成能跟随被测体一起运动的携带式微小型智能电子测试仪。

3.根据权利要求2所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的该智能电子测试仪经过虚拟面板的软件编程设置为不同测试模式的智能电子测试仪，所述的不同测试模式选择有：恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式。

4.根据权利要求3所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的该智能电子测试仪的级联测试模式结构是：根据选择的级联模式，通过测试仪的专用接口多个SoC单片电路芯片的结构多级联成扩展的智能电子测试仪。

5.根据权利要求4所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的该智能电子测试仪的级联测试模式详细结构是：根据被测参数需求相应选择不同工作模式的级联结构，这些不同工作模式的级联结构选择有：信息采集速率扩展、测试通道与测试参数的扩展、存储容量的扩展需要的单种至三种的混合选择组合构成的多级联扩展结构。

6.根据权利要求3所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的该智能电子测试仪的变参数测试模式的结构是：根据测试环境、条件变化的需求，选择设置不同的参数改变机制，构成不同类型、不同数量的变参数测试方式和机构，形成变参数智能电子测试仪。

7.根据权利要求6所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的该智能电子测试仪的变参数测试模式详细结构有：根据被测试参数特点，该测试仪选择并设置或构成不同测试需求、不同工作方式的变参数测试模式或机构，这些机构包括采样频率、触发方式，计数模式的选择并设置或构成。

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