CN101175372B - 一种具有内藏元件的电路板及测量该电路板的方法 - Google Patents

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CN101175372B CN2006101380287A CN200610138028A CN101175372B CN 101175372 B CN101175372 B CN 101175372B CN 2006101380287 A CN2006101380287 A CN 2006101380287A CN 200610138028 A CN200610138028 A CN 200610138028A CN 101175372 B CN101175372 B CN 101175372B
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Abstract

本发明涉及一种具有内藏元件的电路板,其特征在于,包含:多个内藏元件;及至少一传输线,用以电性连接至少一个以上该内藏元件,且该传输线具有一传输线终端电路,以形成一电气回路。该传输线终端电路呈开路配置,该传输线终端电路为将该传输线直接接地。本发明可以大幅缩短在制作过程中测试内藏元件的时间,提高制造效率,降低因费时费工而增加的制造成本,并且借此方法可以增加内藏元件测量的准确度。

Description

一种具有内藏元件的电路板及测量该电路板的方法
技术领域
本发明涉及一种具有内藏元件的电路板的制造及测量方法,特别是一种同时测量至少一个以上内藏元件的电气参数值的方法。
背景技术
随着信息电子产品的快速发展与市场上对效能速度的高度需求,因此许多信息电子产品均已朝向数字高速化、模拟高频化发展。另一方面,消费性电子产品也走向多功能与轻、薄、短、小的需求,特别是便携式无线通讯的电子产品,例如蓝牙(Bluetooth)、无线网络(Wireless Lan)、手机等。而上述电子产品的硬件元件均需使用为数众多的被动元件,其被动元件数量约占系统全部元件的75%以上,因此将为数众多的被动元件整合在印刷电路板(PCB)中以形成内藏元件(Embedded Passives or Integral Substrates),从而大幅提高印刷电路板的密度,深具市场应用潜力。
内藏式被动元件技术的目的是将插件式被动元件与表面粘着式(SurfaceMount Type;SMD)被动元件整合至电路板中,若可整合这些被动元件内藏至电路板中,则可以获得至少以下几个优点:(1)降低制造成本;(2)增加电路板密度,目前一般印刷电路板的技术,已经可以朝向多层印刷结构,所以原本二维面积的使用,我们将它转换成三维空间设计使产品体积得以缩小;(3)减少电路焊接点,增加整个产品的可靠度;(4)内藏元件具有较小湿度,不被腐蚀影响。
目前常见的制造内藏元件的技术有低温共烧陶瓷(Low TemperatureCofired Ceramics;LTCC)制作过程及中国台湾工研院发展的功能性基板(Functional Substrate)的制作,大大提高内藏元件的适用性与制造稳定度。
因此,在现有技术中,对此具有内藏元件的电路板的测量,提供一在高频电子系统中相当重要的阻抗控制线,即在电路板边制作一阻抗控制线,以测量实际制作后因为线宽、材料参数及压合厚度等制程变异,观察是否会影响传输线阻抗,进而影响系统的传输效率,但是却无法确实测量所制造的内藏元件的电气参数值的精确数值。或是采用电路设计的方式,提供测试传输线是开路、短路或断路的机制,而此种方式只能测量基础传输线的导通与否,其功能相当有限。
再者,在现有技术中,提供内藏元件的测量都是以单一内藏元件做单点测试,即是一次只能测量一个内藏元件的电气参数值,因此现有的测量方法非常耗费时间与人力,提高生产的成本,并且降低了生产的效能。
因此,当内藏元件的制作工序提供了相当多的优势于消费性电子产业,但如何快速又准确地测量内藏元件的电气参数,减少制作的时间,提高产品的正确精确度,节省人力,降低成本以提高竞争力,成为必须面对的重要问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种快速测量具有内藏元件的电路板中内藏元件电气参数值的方法,可以解决先前技术所遇到的内藏元件的制程中,时常耗费大量的时间测量内藏元件电气参数值的正确数值,一次只能测量一个,相当费时费工的缺点。
为了实现上述目的,本发明提供了一种具有内藏元件的电路板,具有多个内藏元件以及至少一传输线,用以电性连接至少一个以上内藏元件,并且传输线具有一传输线终端电路,以形成一电气回路。
欲测量该内藏元件的电气参数值时,提供一测量装置,电性连接于上述传输线并发送一连续信号至传输线及与传输线连接的多个内藏元件,并接收一反射信号。接着,提供一数据库,而数据库具有多个信号图形以及对应各信号图形的多个元件电气参数值。又,比较所接收的反射信号与数据库中具有的多个信号图形,当反射信号与多个信号图形之一相符时,传回相符的信号图形所对应的元件电气参数值。
前述数据库的建立以已知电气参数的内藏元件进行测量,将各个内藏元件分为设定为因变量、定变量的方式,逐一变动因变量,而获得不同相对应的信号图形,以做为测量时的比较使用。
此外,本发明还揭露一种具有内藏元件的电路板,其包含有一电路区及一元件测量区,电路区具有多个内藏元件及连接内藏元件的电路,元件测量区则配置有与多个内藏元件结构相同的多个映像元件以及至少一传输线,用以电性连接至少一个以上映像元件。
在测量前述电路板时,先提供一测量装置,电性连接于上述传输线并发送一连续信号至传输线及与传输线连接的多个映像元件,并接收一反射信号。接着,提供一数据库,而数据库具有多个信号图形以及对应各信号图形的多个元件电气参数值。又,比较所接收的反射信号与数据库中具有的多个信号图形,当反射信号与多个信号图形之一相符时,传回相符的信号图形所对应的元件电气参数值。
具体地说,本发明提供了一种具有内藏元件的电路板,其特征在于,包含:多个内藏元件;及至少一传输线,用以电性连接至少一个以上该内藏元件,且该传输线具有一传输线终端电路,以形成一电气回路。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线终端电路呈开路配置。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线终端电路为将该传输线直接接地。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线终端电路具有一电阻,该电阻电性连接于该传输线与接地之间。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线终端电路具有一内藏元件,该内藏元件电性连接于该传输线与接地之间。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线所连接的该内藏元件是任选于由电容、电感及电阻所组成的群组其中至少一种。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线所连接的该内藏元件均为电容、电感或电阻。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线将各该内藏元件电性连接为一串联电路或一并联接地电路。
本发明还提供一种测量具有内藏元件的电路板的方法,其特点在于,包括以下步骤:
提供一测量装置,电性连接于该传输线并发送一信号至该传输线及与该传输线连接的该内藏元件;
接收一反射信号;
提供一数据库,该数据库具有多个信号图形、以及对应该信号图形的多个个元件电气参数值;及
比较该反射信号与该信号图形,当该反射信号与该信号图形之一相符时,传回该相符的信号图形所对应的该元件电气参数值。
上述测量具有内藏元件的电路板的方法,其特点在于,该提供一数据库的步骤包含:
(a)提供多个已知电气参数值的第一元件及多个已知电气参数值的第二元件,该第一、第二元件包含多个与该内藏元件电气参数相同的元件;
(b)选择该第一元件其中之一及该第二元件其中之一,以一传输线连接该被选择的第一元件及该被选择的第二元件,并以该测量装置接收一对应的信号图形,储存该对应的信号图形、该被选择的第一元件的电气参数值及该被选择的第二件元件的电气参数值于该数据库;
(c)自该第二元件中选择另一第二元件取代该选择的第二元件;
(d)重复(b)步骤直至每一该第二元件均被选择并以该测量装置接收到与之对应的信号图形;
(e)再自该第一元件中选择另一第一元件取代该选择的第一元件;
(f)依次重复(b)、(c)及(d)步骤直至每一该第二元件均被选择并以该测量装置接收到与之对应的信号图形;及
(g)重复(e)、(f)步骤直至每一该第一元件均被选择。
上述测量具有内藏元件的电路板的方法,其特点在于,该提供一测量装置的步骤为提供一时域反射计做为该测量装置。
上述测量具有内藏元件的电路板的方法,其特点在于,以该传输线连接该第一元件与该第二元件的步骤为该第一元件通过该传输线电性串联于该第二元件。
上述测量具有内藏元件的电路板的方法,其特点在于,以该传输线连接该第一元件与该第二元件的步骤是以该第一元件通过该传输线电性并联于该第二元件。
上述测量具有内藏元件的电路板的方法,其特点在于,该已知电气参数值的第一元件及第二元件任选于由电容、电感及电阻所组成的群组其中至少一种。
本发明还提供一种具有内藏元件的电路板,其特点在于,包含:
一电路区,具有多个内藏元件及连接该内藏元件的电路;
一元件测量区,配置有与该内藏元件对应且结构相同的至少一个映像元件;及
至少一传输线,用以电性连接至少一个以上该映像元件。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线所连接的该映像元件是任选于由电容、电感及电阻所组成的群组其中至少一种。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线所连接的该映像元件均为电容、电感或电阻。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该传输线将各该映像元件电性连接为一串联电路或一并联接地电路。
上述具有内藏元件的电路板,其特点在于,该元件测量区与该电路区相邻且该映像元件未与该电路区的电路电性连接。
本发明的功效在于提供了一种同时测量多个映像元件以决定其个别的电气参数值的方法,可以大幅缩短在制作过程中测试内藏元件的时间,提高制造效率,降低因费时费工而增加的制造成本,并且借此方法可以增加内藏元件测量的准确度。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1为本发明第一实施例的示意图;
图2为本发明第二实施例的示意图;
图3A为本发明的内藏单一电容线路的示意图;
图3B为图3A中内藏单一电容线路的对应曲线图;
图3C为本发明的内藏单一电感线路的示意图;
图3D为图3C中内藏单一电感线路的对应曲线图;
图4A为单一电容电路组合示意图;
图4B为图4A中单一电容电路组合的对应曲线图,为一时间-阻抗关系图;
图5A为单一电感电路组合示意图;
第5B为图5A中单一电感电路组合的对应曲线图,为一时间-阻抗关系图;
图6为本发明的局部剖面示意图;
图7A为两个电感串联电路组合示意图;及
图7B为图7A中两个电感串联电路组合的对应曲线图,为一时间-阻抗关系图。
其中,附图标记:
10                            U型凹陷处
11至14、21至24、31至33        数值曲线
20                            U型突起处
100、101                      具有内藏元件之电路板
110                           电路区
115a                          第一内藏元件
115b                          第二内藏元件
115c                          第三内藏元件
115d                          第四内藏元件
115a’                        第五内藏元件
115a”                        第六内藏元件
115b’                        第七内藏元件
115b”                        第八内藏元件
120    元件测量区        21   传输线
123    传输线终端电路    124  内藏电容
124a   第一内藏电容      124b 第二内藏电容
125a   第一映像元件      125b 第二映像元件
126    内藏电感
140、150、160、170            单一电容线路
210、220、230、240            单一电感线路
250、260、270                 电感串联线路
300    时域反射计        400  数据库
1241、1242、1243、1244        内藏电容
1260                          第一内藏电感
1261、1262、1263、1264        内藏电感
1265、1266、1267            第二内藏电感
具体实施方式
为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解,配合实施例详细说明如下。
首先,请参阅图1,为本发明第一实施例的示意图。如图1所示,本发明的第一实施例具有一电路板100,与一测量装置相电性连接,而在本发明中所使用的测量装置为一时域反射计(Time Domain Reflectometry;TDR)300,而时域反射计300,再与一数据库400连接。而在电路板100中,具有多个内藏元件,例如第一内藏元件115a、第二内藏元件115b、第三内藏元件115c及第四内藏元件115d,用多条传输线121相连接,每一传输线至少电性连接一个以上内藏元件,而传输线121具有一传输线终端电路123,以形成一电气回路,如图4A所示。其中传输线终端电路123可以具有一电阻或一内藏元件,上述电阻或内藏元件电性连接于传输线121与接地之间,以形成良好的电气回路。此外,传输线终端电路123也可以呈开路配置或将传输线121直接接地。
请参阅图3A,多条传输线121与内藏电容124相连接,其中多条传输线121并不限定要有相同的阻抗,可具有不同的阻抗值,并且将上述线路连接于时域反射计300,使得时域反射计300传送一电磁波信号进入传输线121及内藏电容124中,并接收一反射信号而测得一图形如3B所示,其中图形中U型凹陷处10即为对应内藏电容124的反应曲线。接着,请参阅图3C,多条传输线121与内藏电感126相连接,并且将此线路连接于时域反射计300,使得时域反射计300传送一电磁波信号进入传输线121及内藏电感126中,并接收一反射信号而测得一图形如3D所示,其中图形中U型突起处20即为对应内藏电感126的反应曲线。对应于不同的内藏元件125,就会有不同的反应曲线。
请参阅图4A及图4B,显示连接不同电容值的电容,所对应于不同的反射信号,即有不同的反应曲线,其中此反射信号也呈现为一数值曲线。如图4A所示,为传输线121与单一内藏电容124电性连接的组合,其中单一电容线路140为传输线121与一电容值为10pF的内藏电容1241相连接,并通过连接时域反射计300,使得时域反射计300传送一电磁波信号进入单一电容线路140,并接收一反射信号即为一数值曲线11,如图4B所示,因此数值曲线11为对应于单一电容线路140中10pF内藏电容1241的数值曲线。同样的,当一单一电容线路150具有传输线121与一电容值为20pF的内藏电容1242连接至时域反射计300,可得一对应数值曲线12。而一单一电容线路160具有传输线121与一电容值为30nH的内藏电容1243连接至时域反射计300,可得一对应数值曲线13。最后,一单一电容线路170具有传输线121与一电感值为40pF的内藏电容1244连接至时域反射计300,可得一对应数值曲线14。因此,借着所显示的数值曲线,就可以正确地判断未知电容所具有的电容值。
接着,请参阅图5A及图5B,为连接不同电感值的电感,所对应于不同的反射信号,即为不同的数值曲线。如图5A所示,为具有内藏元件的电路板100中用传输线121与单一内藏电感126电性连接的组合,其中第一电感线路210为传输线121与一电感值为10nH的内藏电感1261相连接,并通过连接时域反射计300,使得时域反射计300传送一电磁波信号进入单一电感线路210,并接收一反射信号,即为一数值曲线21,如图5B所示,因此数值曲线21为对应于单一电感线路210中10nH内藏电感1260的数值曲线。同样的,当一单一电感线路220具有传输线121与一电感值为20nH的内藏电感1262相连接,并通过连接至时域反射计300,可得一对应数值曲线22。而单一电感一线路230具有传输线121与一电感值为30nH的内藏电感1263相连接,并通过连接至时域反射计300,可得一对应数值曲线23。最后,一单一电感线路240具有传输线121与一电感值为40nH的内藏电感1264相连接,并通过连接至时域反射计300,可得一对应数值曲线24。因此,借着所显示的数值曲线,就可以正确地判断未知电感所具有的电感值。
如以上所述,借着时域反射计300所显示的反射信号,即为一数值曲线,就可以有效地判断所连接的线路其传输线121的电阻值及未知内藏元件为电容或电感。并且,由于内藏元件的电气参数值与数值曲线呈现一对一的对应关系。因此,可有效精确地判断一未知映像元件的电气参数值。
而上述技术,不只用在单一内藏元件的测量,也可用于具有多个内藏元件的线路的测量。请参阅图6,为本发明的局部剖面示意图,其中一线路具有多条传输线121及两个内藏元件,其分别为第一内藏电容124a及第二内藏元件124b相互串联。本发明的实施方式并不限定于串联方式连接,也可为并联接的方式连接并据以实施。本发明提供同时测量两个内藏元件的方法,以节省制作过程中测量内藏元件是否正常所花费的时间。
因此,请参阅图7A及图7B,为本发明的快速测量功能的实施方式,如图7A所示,为具有内藏元件的电路板100中用传输线121与两个内藏电感电性连接的组合,其中电感串联线路250为传输线121与两个电感值为10nH的第一内藏电感1260及第二内藏电感1261相连接,并通过连接时域反射计300,使得时域反射计300传送一电磁波信号进入电感串联线路250,并接收一反射信号即显示为数值曲线21及31,如图7B所示,其中数值曲线21为对应于电感串联线路250中第一内藏电感1260的数值曲线,而数值曲线31为对应于电感串联线路250中第二内藏电感1261的数值曲线。同样的,当一线路260具有传输线121、一电感值为10Nh的第一内藏电感1260及一电感值为20nH的内藏电感1262相连接,且连接至时域反射计300,可得对应的数值曲线21及32。其中数值曲线21为对应于线路260中第一内藏电感1260的数值曲线,而数值曲线32为对应于电感串联线路260中电感值为20nH的内藏电感1262的数值曲线。最后,一电感串联线路270具有传输线121、一电感值为10nH的第一内藏电感1260及一电感值为30nH的内藏电感1263相连接,且连接至时域反射计300,可得对应的数值曲线21及33。其中数值曲线21为对应于电感串联线路270中第一内藏电感1260的数值曲线,而数值曲线33为对应于电感串联线路270中电感值为30nH的内藏电感1263的数值曲线。因此,本发明可以同时测量并读取两个以上的内藏电感126的对应数值曲线。
接着,请再参阅图6、图7A及7B,其中电感串联线路250具有两个电感值同为10nH的第一内藏电感1260及第二内藏电感1261所组成,而其对应的数值曲线分别为21及31,其数值曲线具有不同的高度与宽度。因为如图1所示,当线路连接两个以上内藏元件时,第二内藏元件115b所接到时域反射计300的电磁波信号及反射回时域反射计的电磁波信号必定会受到第一内藏元件115a的影响,使得具有相同电气参数值的第一内藏元件115a及第二内藏元件115b所对应的数值曲线会不相同。其第二内藏元件115b所对应的数值曲线会因为第一内藏元件115a的电气参数值大小而变化。
因此,本发明提供建立同时测量两个以上内藏元件的数据库400的步骤如下:
(a)提供多个已知电气参数值的第一元件及多个已知电气参数值的第二元件,其中第一元件及第二元件各可为电感、电容或电阻;要得到上述已知电气参数的第一及第二元件,可以先将未知电气参数的第一及第二元件分别连接至时域反射计300,利用时域反射计300分别取得一反射信号与数据库400中单一内藏元件知电气参数值相比对;(b)选择多个第一元件其中的一个及多个第二元件其中之一,接着再用一传输线以串联方式或并联方式连接第一元件及该第二元件,并以时域反射计300接收一对应的信号图形,并且储存对应的信号图形、选择的第一元件的电气参数值及选择的第二件元件的电气参数值于数据库400中,例如选择一电感值为10nH的第一映像电感1260及选择一电感值为10nH的第二映像电感1265,并且如图7A所示的电感串联线路250,再利用时域反射计300接收一对应的信号图形,即可得到如图7B所示的信号图形21及31。则所选择电感值为10nH的第一内藏电感1260、所选择电感值为10nH的第二内藏电感1265、以及对应的信号图形21及31,三者形成相互对应关系,储存于数据库400中;(c)自多个第二元件中选择另一第二元件取代原先选择的第二元件;(d)并且重复(b)步骤直至每一第二元件均被选择并以时域反射计300接收到与之对应的信号图形,因此(b)步骤中第一元件的电气参数值、(c)步骤中另一第二元件的电气参数值及所对应的信号图形,三者形成相互对应关系,储存于数据库400中,例如选择一电感值为10nH的第一内藏电感1260及选择一电感值为20nH的第二内藏电感1266,并且如图7A所示的电感串联线路260,再利用时域反射计300接收一对应的信号图形,即可得到如图7B所示的信号图形21及32。则所选择电感值为10nH的第一内藏电感1260、所选择电感值为20nH的第二内藏电感1266、以及对应的信号图形21及32,三者形成相互对应关系,储存于数据库400中;(e)接着,再自多个第一元件中选择另一第一元件取代原先选择的第一元件;(f)依序重复(b)、(c)及(d)步骤直至每一第二元件均被选择并以该测量装置接收到与之对应的信号图形;(g)并重复(e)、(f)步骤直至每一第一元件均被选择。
因此,当任一线路包含有一未知的第一内藏元件115a及一未知的第二内藏元件115b,此第一内藏元件115a可为电容、电感或电阻,第二内藏元件115b也可为电容、电感或电阻。并与时域反射计300相连接,通过时域反射计300可得到一反射信号,即具有一第一数值曲线及一第二数值曲线。比较反射信号与数据库400中多个信号图形,当反射信号与多个信号图形之一相符时,则传回相符的信号图形所对应的每一元件的电气参数值,即可知上述未知的第一内藏元件及第二内藏元件的电气参数值。
接着,清参阅图2,为本发明第二实施例的示意图。如图2所示,本发明的电路板101具有一电路区110及一元件测量区120,且元件测量区120与一测量装置电性连接,而在本发明中所使用的测量装置为一时域反射计,而时域反射计300,再与一数据库400相连接,其中电路区110具有多个内藏元件,例如第五内藏元件115a’、第六内藏元件115a”、第七内藏元件115b’及第八内藏元件115b”以及连接多个内藏元件的应用线路,而在元件测试区120,有相对应于电路区中内藏元件的映像元件,例如第一映像元件125a及第二映像元件125b,而在电路区110中有两个以上具有相同结构的内藏元件如第一内藏元件115a’及第二内藏元件115a”,则在元件测量区120中只需设置一个与其结构相同的第一映像元件125a,并在元件测量区120中将至少一个以上映像元件用传输线121电性连接。
其余实施方式可依照图2至图7B所示,与第一实施例主要实施方式相同,主要的差异在于第二实施例中要利用时域反射计300同时测量出元件测量区120中与内藏元件相对应的多个映像元件的多个反射信号,并将多个反射信号与数据库400中的多个信号图形相比较。比较及数据传回程序与第一实施例相同。
本发明的实施方式并不限定于两个内藏元件的测量,也可以在具有两个以上内藏元件的线路中接收时域反射计300得到的两个以上反射信号,即为两个以上的数值曲线,与数据库400数据相比较,即可决定线路中两个以上映像元件的电气参数值。其中,每一映像元件都可为电容、电感或电阻。
本发明所提供的具有内藏元件的电路板制造方法及映像元件的测量方法,可以用于印刷电路板的制作过程中,也可用于低温共烧陶瓷(Low TemperatureCofired Ceramics;LTCC)的电路板制程中,或是用于薄膜制作的电路板制作中,及用于厚膜制作的电路板制造中,提供一个可被广泛利用的制造及测量方法。
本发明第一及第二实施例可以解决先前技术所遇见的问题,在先前技术内藏元件的制作中,要测得内藏元件电气参数值正确数值,需在元件测量区120制造相对应的映像元件,并且得在一个映像元件两侧附上电极以测量其电气参数值,一次测量一个映像元件的电气参数值。而本发明提供了一个同时快速测量多个内藏元件以决定其电气参数值的方法,可以大幅缩短在制作过程中测试内藏元件的时间,提高制造效率,降低因费时费工而增加的制造成本。
当然,本发明还可有其他多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (6)

1.一种测量具有内藏元件的电路板的方法,其特征在于,所述具有内藏元件的电路板包含:
多个内藏元件;
及至少一传输线,用以电性连接至少一个以上该内藏元件,且该传输线具有一传输线终端电路,以形成一电气回路;
该测量具有内藏元件的电路板的方法包括以下步骤:
提供一测量装置,电性连接于该传输线并发送一信号至该传输线及与该传输线连接的该内藏元件;
接收一反射信号;
提供一数据库,该数据库具有多个信号图形、以及对应该信号图形的多个个元件电气参数值;及
比较该反射信号与该信号图形,当该反射信号与该信号图形之一相符时,传回该相符的信号图形所对应的该元件电气参数值。
2.根据权利要求1所述的测量具有内藏元件的电路板的方法,其特征在于,该提供一数据库的步骤包含:
(a)提供多个已知电气参数值的第一元件及多个已知电气参数值的第二元件,该第一、第二元件包含多个与该内藏元件电气参数相同的元件;
(b)选择该第一元件其中之一及该第二元件其中之一,以一传输线连接该被选择的第一元件及该被选择的第二元件,并以该测量装置接收一对应的信号图形,储存该对应的信号图形、该被选择的第一元件的电气参数值及该被选择的第二件元件的电气参数值于该数据库;
(c)自该第二元件中选择另一第二元件取代该选择的第二元件;
(d)重复(b)步骤直至每一该第二元件均被选择并以该测量装置接收到与之对应的信号图形;
(e)再自该第一元件中选择另一第一元件取代该选择的第一元件;
(f)依次重复(b)、(c)及(d)步骤直至每一该第二元件均被选择并以该测量装置接收到与之对应的信号图形;及
(g)重复(e)、(f)步骤直至每一该第一元件均被选择。
3.根据权利要求1所述的测量具有内藏元件的电路板的方法,其特征在于,该提供一测量装置的步骤为提供一时域反射计做为该测量装置。
4.根据权利要求2所述的测量具有内藏元件的电路板的方法,其特征在于,以该传输线连接该第一元件与该第二元件的步骤为该第一元件通过该传输线电性串联于该第二元件。
5.根据权利要求2所述的测量具有内藏元件的电路板的方法,其特征在于,以该传输线连接该第一元件与该第二元件的步骤是以该第一元件通过该传输线电性并联于该第二元件。
6.根据权利要求2所述的测量具有内藏元件的电路板的方法,其特征在于,该已知电气参数值的第一元件及第二元件任选于由电容、电感及电阻所组成的群组其中至少一种。
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