CH669663A5 - - Google Patents

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CH669663A5
CH669663A5 CH536385A CH536385A CH669663A5 CH 669663 A5 CH669663 A5 CH 669663A5 CH 536385 A CH536385 A CH 536385A CH 536385 A CH536385 A CH 536385A CH 669663 A5 CH669663 A5 CH 669663A5
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CH
Switzerland
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light beam
inspected
reflected
light beams
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CH536385A
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German (de)
English (en)
Inventor
Wilfried Schoeps
Original Assignee
Schweiz Eidgenossenschaft Sin
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
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CH536385A 1985-12-17 1985-12-17 CH669663A5 (ja)

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CH536385A CH669663A5 (ja) 1985-12-17 1985-12-17
AU67269/87A AU6726987A (en) 1985-12-17 1986-12-15 Opto-electronic process for inspecting surfaces
PCT/CH1986/000175 WO1987003957A1 (en) 1985-12-17 1986-12-15 Opto-electronic process for inspecting surfaces
EP19870900036 EP0250490A1 (de) 1985-12-17 1986-12-15 Opto/elektronisches verfahren zur inspektion von oberflächen

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CH669663A5 true CH669663A5 (ja) 1989-03-31

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CH536385A CH669663A5 (ja) 1985-12-17 1985-12-17

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EP (1) EP0250490A1 (ja)
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002095379A2 (de) * 2001-05-18 2002-11-28 Dr. Ing. Willing Gmbh Leuchte zur abmusterung von flächen

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2626383B1 (fr) * 1988-01-27 1991-10-25 Commissariat Energie Atomique Procede de microscopie optique confocale a balayage et en profondeur de champ etendue et dispositifs pour la mise en oeuvre du procede
WO1990005297A1 (de) * 1988-10-31 1990-05-17 Schweizerische Eidgenossenschaft Psi Paul Scherrer Institut Vorrichtung zur gleichzeitigen berührungslosen prüfung einer mehrzahl von stellen eines prüfguts sowie deren verwendung
EP0406420B1 (en) * 1989-01-19 1993-12-29 Vladimir Efimovich Tesler Television system

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1534762A (fr) * 1967-05-18 1968-08-02 Cilas Procédé et dispositif de palpage optique
US3736065A (en) * 1972-05-09 1973-05-29 Philco Ford Corp Radiation sensitive means for detecting optical flaws in glass
CA1089551A (en) * 1978-06-27 1980-11-11 John M. Lucas Graininess sensor
DE3037622C2 (de) * 1980-10-04 1987-02-26 Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast Einrichtung zur Bestimmung der Oberflächengüte
DE3428435A1 (de) * 1984-08-01 1986-02-06 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Rauheitssonde

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002095379A2 (de) * 2001-05-18 2002-11-28 Dr. Ing. Willing Gmbh Leuchte zur abmusterung von flächen
WO2002095379A3 (de) * 2001-05-18 2003-10-16 Willing Gmbh Dr Ing Leuchte zur abmusterung von flächen

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EP0250490A1 (de) 1988-01-07
WO1987003957A1 (en) 1987-07-02
AU6726987A (en) 1987-07-15

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