AT268U1 - Means for detecting contours of the curve - Google Patents

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AT268U1
AT268U1 AT0804794U AT804794U AT268U1 AT 268 U1 AT268 U1 AT 268U1 AT 0804794 U AT0804794 U AT 0804794U AT 804794 U AT804794 U AT 804794U AT 268 U1 AT268 U1 AT 268U1
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AT
Austria
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light
characterized
measuring head
guided
diaphragm
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AT0804794U
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German (de)
Inventor
Karl Wallisch Karl Wallisch
Frank Dipl Ing Dr Te Buschbeck
Original Assignee
Oesterr Forsch Seibersdorf
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Description


    <Desc/Clms Page number 1> <Desc / CLMS Page number 1> 
 



    Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Feststellung des Konturenverlaufes, insbesondere des Kantenverlaufes, von Gegenständen, z. The invention relates to a device for detecting the contours of course, especially of the edge path, of objects, for example.  B. Drähten, Schneidmessern od. dgl., bei der der Gegenstand durch zumindest ein Lichtstrahlenbündel geführt und der (die) von der zu untersuchenden Querschnittfläche bzw. von der von der Kontur begrenzten Fläche des Gegenstandes teilweise ausgeblendete (n) Lichtstrahl (en) durch eine Blende geführt ist (sind) und das durch die Blende durchtretende Licht mit zumindest einer Fokussiereinheit auf zumindest ein Lichtsensorenelement, vorzugsweise einen Fototransistor, fokussiert ist, an das eine Auswerteeinrichtung angeschlossen ist. od as wires, cutting blades. the like., in which the subject performed by at least one light beam and the (s) of the to be examined cross-sectional area or from the delimited by the contour surface of the article partially hidden (n) light beam (s) by is performed a diaphragm (are) and the light passing through the aperture of light with at least one focusing unit has at least one light sensor element, preferably a phototransistor, is focused, is connected to the an evaluation. 



    Eine derartige Einrichtung zur Feststellung des Oberflächenverlaufes von Gegenständen ist z. Such a device for detecting the surface curve of objects is z.  B. aus der US-PS 4 021 119 bekannt. For example, from US Patent No. 4,021,119 known.  Diese bekannte Einrichtung besitzt Nachteile hinsichtlich der Messpräzision. This known device has disadvantages in terms of measurement precision. 



    Ziel der Erfindung ist die Erstellung einer Einrichtung, mit der sehr rasch und mit hoher Präzision die Welligkeit von Konturen bzw. Kanten von Gegenständen erfasst und ausgewertet werden können. The aim of the invention is to create a device, can be detected with the very rapidly and with high precision the ripple of contours or edges of objects and evaluated.  Überdies soll der Aufbau der Einrichtung betriebssicher und robust und einfach gehalten sein. Moreover, the structure is to reliably set up and robust and be kept simple. 



    Dieses Ziel wird bei einer Einrichtung der eingangs genannten Art erfindungsgemäss dadurch erreicht, dass als Lichtquelle eine an sich bekannte Laserlichtquelle, vorzugsweise eine einen rechteckigen Laserlichtstrahl erzeugende Collimator-Pen, dh eine Laserdiode mit integrierter Optik, vorgesehen ist, dass die Blende eine Spaltblende ist, dass der Spalt der Spaltblende im wesentlichen senkrecht zu der Kontur bzw. Kante des zu untersuchenden Gegenstandes und/oder zu der Bewegungsrichtung des Gegenstandes ausgerichtet ist und dass der Laserlichtstrahl insbesondere ausblendungsfrei zur und fokussierfrei zur bzw. durch die Spaltblende geführt ist. This object is according to the invention in a device of the type mentioned above achieved as a light source, a known laser light source, preferably a rectangular laser light beam generating collimator pen, ie, a laser diode with integrated optics, it is provided that the aperture is a slit diaphragm, that the gap of the slit diaphragm is substantially perpendicular to the contour or edge of the to be inspected article and / or aligned with the direction of movement of the object and that the laser light beam, in particular suppression freely and focus free to or is passed through the slit diaphragm. 



    Mit der erfindungsgemässen Einrichtung wird es möglich, von dem Laserstrahl festgestellte Fehler sehr genau zu erfassen und auszuwerten. With the inventive device it is possible to very accurately detect by the laser beam determined error and evaluated.  Die Abdeckung des Spaltes durch die Kontur des Gegenstandes ist dabei ein sehr genaues Mass für den Konturenverlauf des Gegenstandes. The cover of the gap by the contour of the object is a very accurate measure of the contour shape of the object. 



    Die vorgesehene Spaltblende ist mit dem Spalt gemäss der US-PS 4 021 119 nicht vergleichbar, bei der die den Strahl begrenzende Öffnung zur Begrenzung des Öffnungswinkels vorhanden ist und als Aperturblende fungiert. The intended slit diaphragm is not with the gap according to the US-PS 4,021,119 comparable, wherein the beam limiting aperture for limiting the angle of opening is present and acts as an aperture stop. 



   Die vorgesehene Spaltblende steht überdies noch im wesentlichen senkrecht zu der Kontur bzw. der Kante des zu untersuchenden Gegenstandes, so dass ein linearer Zusammenhang der Abdeckung des Spaltes durch den Gegenstand und des gemessenen durch den Spalt tretenden Laserlichtes besteht. The intended slit diaphragm is, moreover, still substantially perpendicular to the contour or the edge of the object to be examined so that a linear relationship of the cover of the gap is made by the subject and the measured passing through the gap laser light.  Darüberhinaus bringt der Einsatz von Laserlicht in Kombination mit der'Spaltblende den Moreover, bringing the use of laser light in combination with the der'Spaltblende 

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  Vorteil, dass der Spalt über seine Längserstreckung gleichmässig ausgeleuchtet ist, wogegen eine gleichmässige Ausleuchtung des von dem Lichtbündel eingenommenen Raumes bei der Messeinrichtung gemäss der erwähnten US-PS weit schwieriger zu erzielen ist. Advantage that the gap is evenly illuminated over its longitudinal extent, a uniform illumination while the area occupied by the light beam at the space of the measuring device according to the mentioned US-PS is far more difficult to achieve. 



    Eine sehr exakte Messmethode ergibt sich, weil der Spalt der Spaltblende im wesentlichen Senkrecht zu der Randfläche bzw. -kante des zu untersuchenden Gegenstandes und/oder zur Bewegungsrichtung des Gegenstandes ausgerichtet ist, da aufgrund der Veränderung des durch Konturfehler ein- oder ausgeblendeten Lichtes eine sehr exakte Detektion möglich ist. A very precise method of measurement results because the slit of the slit diaphragm is substantially perpendicular to the edge surface or edge of the to be inspected article and / or is aligned with the direction of movement of the object, since due to the change of the on and off by the contour error or hidden light a very accurate detection is possible. 



    Derartige Einrichtungen können insbesondere zur Qualitätskontrolle von Schneidmessern verwendet werden, die im Endlosverfahren gefertigt werden, sodass eine Automatisierung der Herstellung und eine integrierte Qualitätskontrolle realisiert werden können. Such means may in particular be used for quality control of cutting blades which are manufactured in an endless process so that the automation of production, and an integrated quality control can be realized.  Die erfindungsgemässe Einrichtung bietet eine sehr exakte On-line-Messmöglichkeit zur Bestimmung von Schneidfehlern oder Oberflächenfehlern von Gegenständen und ermöglicht vorteilhafterweise eine sehr rasch erfolgende Steuerung von Geräten, mit denen nicht entsprechende Gegenstände ausgeschieden werden können. The inventive device provides a very accurate on-line measurement possibility for the determination of cutting errors or surface defects of objects and advantageously allows a very sustained pace, controlling devices that can be used to not appropriate objects excreted. 



    Zur Erstellung einer kompakten Einrichtung ist erfindungsgemäss vorgesehen, dass die Laserstrahlenquelle (n), z. To create a compact device according to the invention it is provided that the laser beam source (s) z.  B. Collimator-Pen, das Lichtsensorelement, die Spaltblende und die Fokussiereinheit gemeinsam in demselben Innenraum eines kompakten Leichtmeta1igehäuses bzw. -messkopfes angeordnet sind. B. collimator pen, the light sensor element, the slit diaphragm and the focusing unit are arranged together in the same interior of a compact Leichtmeta1igehäuses or -messkopfes. 



    Bei einer erfindungsgemässen Einrichtung kann es zweckmässig sein, wenn der Laserlichtstrahl mit einem ersten Spiegel in die Messzone abgelenkt ist, in diese durch eine erste planparallele Platte austritt, aus der Messzone durch eine weitere planparallele Platte wieder in den Messkopf eintritt und mit einem weiteren Spiegel auf die Spaltblende umgelenkt ist. In an inventive device, it may be expedient if the laser light beam is deflected by a first mirror in the measurement zone, where it exits through a first plane parallel plate, enters from the measurement zone by a further plane parallel plate back into the measuring head and with a further mirror on the slit diaphragm is deflected. 



    Eine sehr exakte Auswertung der Messsignale wird'möglich, wenn die Auswerteeinrichtung zur Trennung der Nutz- und Störsignale ein vorzugsweise regelbares Bandpassfilter umfasst, dessen Ausgangssignal einem Spitzenwertgleichrichter und/oder einem Flächenwertgleichrichter zugeführt ist, deren gegebenenfalls über einen Schwellwertdetektor bzw. Komperator geführte Aus- If the evaluation device for the separation of the desired and interference signals includes a very precise evaluation of the measurement signals wird'möglich a preferably adjustable band pass filter, whose output signal is supplied to a peak value rectifier and / or a face value rectifier, which, if appropriate, passed via a threshold detector or comparator education 
  EMI2.1 EMI2.1 
 
 Eine Ausschaltung der Umgebungseinflüsse wird erfindungsgemäss erreicht, wenn bei Untersuchungen von durch die Messzone durchgeführten Gegenständen der Messkopf und eine Antriebs- bzw. Trägereinheit für die zu untersuchenden bzw. in der Messzone zu plazierenden Gegenstände baulich getrennt angeordnet sind bzw. der Messkopf vibrationsfrei bzw. gegenüber dieser An elimination of the environmental influences is achieved according to the invention, when the measuring head are in studies of process performed by the measurement zone Objects of the measuring head and a drive or support unit for the structurally arranged separately to be investigated or in the measurement zone to be placed objects or vibrations or relative to this 

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  Antriebs- bzw. Trägereinheit stossgedämpft gelagert ist. Drive and support unit is supported shock damped. 



    Im folgenden wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. In the following the invention is explained in detail with reference to the drawing.  Es zeigen Fig. 1 und 2 verschieden aufgebaute erfindungsgemässe Einrichtungen, Fig. 3 schematisch dem Aufbau eines Messkopfes und Fig. 4 ein schematisches Blockschaltbild einer Auswerteelektronik. In the drawings Fig. 1 and 2 differently constructed according to the invention means, Fig. 3 schematically shows the structure of a measuring head and Fig. 4 is a schematic block diagram of a transmitter. 



    Fig. 1 zeigt schematisch den Aufbau einer erfindungsgemässen Einrichtung. Fig. 1 shows schematically the structure of an inventive device.  Ein von einer Laserlichtquelle 1, z. One of a laser light source 1, z.  B. einer Collimator-Pen, dh einer Laserdiode mit integrierter Optik ausgesandter rechteckiger Laserstrahl 2 ist auf eine Spaltplatte bzw. Spaltblende 4 gerichtet. Collimator as a pen, that a laser diode with integrated optics emitted rectangular laser beam 2 is directed to a slit plate or slit. 4  Das durch den etwa 10m x 4000pm grossen durchlässigen bzw. transparenten Spalt 4'der Spaltblende 4 ausgeblendete Licht wird durch einen Kondensor bzw. eine-Sammellinse 5 auf einen Phototransistor 6 zur Messung der Lichtintensität ausgerichtet. The 4 'by approximately 10m x 4000pm large translucent or transparent gap slit diaphragm 4 hided light-converging lens, a 5 aligned on a condenser or a phototransistor 6 for measuring the light intensity.

    Zwischen der Laserdiode 1 und der Spaltblende 4 wird ein Gegenstand 7, im vorliegenden Fall ein Schneidmesser, derart geführt, dass es den zum Spalt 4'der Spaltblende 4 gelangenden Laserstrahl 2 zum Teil ausblendet. Between the laser diode 1 and the slit diaphragm 4, an article 7, in this case, a cutting blade guided such that it hides the gap 4 'of the slit diaphragm 4 entering laser beam 2 partly.  Ändert sich aufgrund von Oberflächenwelligkeiten bzw. Schneidenfehlern die auf den Spalt 4'durch- tretende Lichtmenge und somit die vom Photodetektor 6 abgegebene Spannung, da die Anordnung so getroffen ist, dass die vom Laserstrahl 2 beleuchtete Kante bzw. der Rand des Gegenstandes auf den Spalt 4'abgebildet wird, sodass Änderungen im Rand-bzw. Changes due to surface undulations or cutting faults, the 4'durch- to the gap passing light amount, and thus the output from the photodetector 6 voltage, since the arrangement is such that the area illuminated by the laser beam 2 edge or the edge of the article to the gap so that changes in 4'abgebildet is, edge-or.

    Kantenverlauf Änderungen des durch den Spalt 4' durchtretenden Lichtes bzw. der vom Detektor 6 gemessenen Intensität ergeben. result edge course changes of the passing through the gap 4 'or the light intensity measured by the detector 6. 
  EMI3.1 EMI3.1 
  des Gegenstandes 7 durch den Laserstrahl 2 erfolgen ; 7 of the article carried by the laser beam 2;  vorteilhafterweise erfolgt die Auswertung unter Zuhilfenahme eines mit der Bewegung des Gegenstandes 7 bzw. mit der Schneidenbewegung gekoppelten Weggebers, dessen Signal gemeinsam mit dem Signal des Photodetektors 6 ausgewertet wird. Advantageously, the evaluation is carried out with the aid of a coupled with the movement of the object 7 or the cutting movement displacement sensor, whose signal is evaluated together with the signal of the photodetector. 6  0 0  
 Fig. 2 zeigt eine alternative Ausführungsform zu der in Fig. 1 dargestellten Einrichtung. Fig. 2 shows an alternative embodiment to that shown in FIG. 1 device.  Diese Einrichtung eignet sich insbesondere zur Untersuchung von dünnen Gegenständen 7, z. This device is particularly suitable for the study of thin objects 7, z.  B. Drähten, die durch den rechteckigen Laserstrahl 2 geführt werden und einen mittleren Strahlenbereich ausblenden, sodass die gegenüberliegenden Rand- bzw. Kantenbereiche auf den Spalt 4'abgebildet werden. B. wires which are passed through the rectangular laser beam 2 and hide a central beam region, so that the opposite edge or edge portions 4'abgebildet on the gap.

    Die seitlichen Strahlenbereiche 3 und 3'werden durch die Spaltblende'4 und eine Fokussiereinheit 5 geführt und werden auf einen einzigen Phototransistor 6 gerichtet. The lateral beam portions 3 and 3'werden guided by the Spaltblende'4 and a focusing unit 5, and be directed to a single phototransistor. 6 



    Wie mit dem Pfeil 31 angedeutet, könnte mittels einer zweiten erfindungsgemässen Einrichtung der Kontur- bzw. Kantenverlauf des Gegenstandes 7 in einer Ebene senkrecht oder in einem anderen Winkel zur dargestellten As indicated by the arrow 31, the contour or edge profile could perpendicular of the article 7 in a plane by means of a second device according to the invention or shown in a different angle 

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  Untersuchungsrichtung und senkrecht zur Bewegungsrichtung des Gegenstandes 7 erfolgen. Investigation carried out direction and perpendicular to the direction of movement of the object. 7  Diese Einrichtung- kann genauso aufgebaut werden wie die bereits beschriebenen Einrichtungen ; This Hardware- can be built as well as the facilities already described;  auch mehr als zwei Einrichtungen können versetzt um den Umfang eines Gegenstandes angeordnet werden. more than two devices may be staggered around the circumference of an object. 



    Im Hinblick darauf, dass aufgrund der relativ raschen Bewegung des Gegenstandes 7 durch den Laserstrahl 2 sich geringe Impulsbreiten für die allenfalls auftretenden Fehler ergeben, sollte als Lichtsensorelement 6 ein schneller Photodetektor, insbesondere mit einem Messverstärker, eingesetzt werden. In view of the fact that small pulse widths result due to the relatively rapid movement of the object 7 by the laser beam 2 for the possibly occurring error, should fast photodetector as a light sensor element 6, will be used in particular to a sense amplifier. 



    Vorteilhaft wird die erfindungsgemässe Einrichtung als kompakte Einheit ausgebildet und in ein Gehäuse 18 integriert, wie Fig. 3 zeigt. The inventive apparatus is advantageously designed as a compact unit and integrated in a housing 18, as shown by FIG. 3.  In einem Raum 10 für die Elektronik bzw. die Versorgung der Collimator-Pen 1 sind die entsprechenden Schaltelemente und Stromzuführungseinheiten angeordnet. In a space 10 for the electronics and the supply respectively of the collimator pen 1, the corresponding switching elements and power supply units are arranged.  Von der Collimator-Pen 1 wird der Laserstrahl 2 auf einen Spiegel 8 gelenkt, der unter einem Winkel von 450 im Lichtweg des Laserstrahles 2 angeordnet ist. Of the collimator pen 1 of the laser beam 2 is directed to a mirror 8 disposed at an angle of 450 in the light path of the laser beam. 2  Der vom Spiegel 8 reflektierte Laserstrahl tritt durch eine erste planparallele Platte 12 in eine Messzone 11, durch die die Gegenstände 7 durch den The light reflected by the mirror 8 laser beam passes through a first plane parallel plate 12 in a measuring zone 11, through which the articles 7 by the 
  EMI4.1 EMI4.1 
  Laserstrahl 2 geführt werden. are guided laser beam. 2

    Aus der Messzone 11 treten die nicht ausgeblendeten Teile 3 bzw. 3'des Laserstrahles 2 durch eine weitere planparallele Platte 13 wieder ins Innere des Gehäuses 18 und treffen dort auf einen weiteren Spiegel 9, der unter 450 "zur Ebene des Lichtwege geneigt ist. the non-masked parts 3 and 3 'of the laser beam 2 emerge from the measurement zone 11 by a more plane-parallel plate 13 back into the interior of the housing 18 where they meet a further mirror 9, which is inclined at 450' to the plane of the light paths. 



    Der von diesem Spiegel 9 reflektierte Laserstrahl trifft sodann auf die Spaltblende 4 ; The beam reflected by this mirror 9 the laser beam is then incident on the slit diaphragm 4;  der Restlichtanteil wird anschliessend in der Fokussiereinheit 5 fokussiert und auf einen oder zwei Phototransistoren 6 gelenkt. the rest of the light is then focused into the focusing unit 5 and directed to one or two phototransistors. 6  An die Phototransistoren 6 sind entsprechende Auswerteschaltungen 14 und Stromversorgungseinrichtungen angeschlossen. respective evaluation circuits 14 and power supply devices are connected to the phototransistors. 6  Ein platzsparender Aufbau ergibt sich, wenn die Messzone 11 von zwei Gehäusevorsprüngen begrenzt bzw : gebildet ist, in denen jeweils einer der Spiegel gelegen ist. A space-saving construction is obtained when the measurement zone 11 of two housing projections or limited: is formed, in each of which one of the mirrors is located. 



    Die Anordnung der Einrichtung in einem eigenen Messkopf dient zur Ausschaltung von Vibrationen der Einrichtungen, die die Gegenstände 7 durch den Laserlichtstrahl bewegen ; The arrangement of the device in a separate measuring head is used for the elimination of vibrations of the means for moving the articles 7 by the laser light beam;  ferner können dadurch Störsignale, herrührend von elektrischen Einstreuungen benachbarter Maschinen, besser abgeschirmt werden. Further, characterized interfering signals originating from electrical interference of adjacent machines are better shielded.  Die Anordnung der transparenten, planparallelen Platten 12, 13 ermöglicht ferner, den optischen Teil der Einrichtung vor Verschmutzung zu schützen. The arrangement of the transparent, plane-parallel plates 12, 13 further allows to protect the optical portion of the device against contamination.  Vorteilhaft ist es, wenn der Messkopf 18 aus einem Leichtmetallblock gefertigt ist und somit als Kompakteinheit vorliegt. It is advantageous if the measurement head is made of a light metal block 18 and thus is present as a compact unit. 

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    Zur weiteren Verbesserung der Signalauswertung ist in der Einheit 14 der Ausgang 30 des Phototransistors 6 an ein Bandpassfilter 15 geführt, dessen obere und untere Grenzfrequenz getrennt einstellbar sind, um im Betrieb eine optimale Trennung von Nutz-und Störsignalen einstellen zu können. To further improve the signal analysis in the unit 14 the output of which is 30 of phototransistor 6 to a band-pass filter 15, whose upper and lower cutoff frequency can be set separately in order to set an optimal separation of useful and interfering signals in operation.  Das gefilterte Signal wird zwei Gleichrichterschaltungen 16, 17 zugeführt. The filtered signal is fed to two rectifier circuits 16, 17th  Der Spitzenwertgleichrichter 17 liefert ein Ausgangssignal, das proportional der Tiefe einer Oberflächenwellung bzw. einer Kerbe ist ; The peak value rectifier 17 supplies an output signal which is proportional to the depth of a surface waviness or a notch;  der Flächenwertgleichrichter liefert ein Signal, das proportional zur Fehlerfläche der Kerbe bzw. Wellung ist. the face value rectifier provides a signal which is proportional to the error area of ​​the notch or corrugation.  Im Betrieb besteht somit die Möglichkeit, mittels eines Umschalters die jeweils interessierende Grösse auszuwählen. In operation, it is thus possible to select the respective quantity of interest by means of a switch.  Das ausgewählte Signal wird sodann einem Schnellwertdetektor bzw. The selected signal is then a fast detector or

    Komparator 19 zugeführt und in diesem mit einer einstellbaren Spannung verglichen. supplied to comparator 19 and compared in this with an adjustable voltage.  Sobald das Messsignal diese Schwellspannung überschreitet, liefert der Komparator 19 einen Ausgangsimpuls. As soon as the measurement signal exceeds this threshold, the comparator 19 supplies an output pulse.  Dieser Ausgangsimpuls kann mit dem Signal eines Optokopplers 20, der Ober einen Eingang 29 mit einem Betriebszustandssignal betreffend z. This output pulse may have an input 29 for relating with an operating condition signal with the signal of the optocoupler 20, the upper.  B. die Bewegungseinrichtung, das Vorhandensein des Gegenstandes od. dgl. für die zu untersuchenden Gegenstände beaufschlagt wird, in einem UND-Gatter 21 verknüpft werden. od as the moving means, the presence of the object. the like. for the is applied to be examined objects, AND gates 21 are combined in one.  Das Signal des UND-Gatters kann sodann über einen potentialfreien Ausgang 25 mit einer von einem Zeitgeber 22 vorbestimmten Zeitdauer von z. The signal of the AND gate may then be a potential-free output 25 having a predetermined by a timer 22 period of z.  B. 250 ms abgegeben werden. B. 250 ms are delivered. 



    Eine Alternative der Signalabgabe besteht darin, einen Optokoppler 26 vorzusehen, dessen Ausgangssignal zu einem Ausgang 27 zur Steuerung einer Bearbeitungseinrichtung oder einer Ausscheideeinrichtung für die Gegenstände geleitet ist. An alternative to the signal emission is to provide an optical coupler 26, whose output signal is passed to an output 27 for controlling a machining device or a separating device for the articles. 



    Letztlich kann das Signal über einen Zähler 23 einer Anzeige 24 zugeführt werden, welche eine Anzeige der Fehlergrösse, der Zahl der Gegenstände usw., liefert und allenfalls über einen Reseteingang 28 zurückstellbar ist. Finally, the signal may be supplied through a counter 23, a display 24 which, etc., provides an indication of defect size, the number of objects and can be reset if necessary via a reset input 28th 

Claims (5)

  1. Ansprüche : 1. Einrichtung zur Feststellung des Konturenverlaufes, insbesonde- EMI6.1 Querschnittsfläche bzw. von der von der Kontur begrenzten Fläche des Gegenstandes teilweise ausgeblendete (n) Lichtstrahl (en) durch eine Blende geführt ist (sind) und das durch die Blende durchtretende Licht mit zumindest einer Fokussiereinheit auf zumindest ein Lichtsensorenelement, vorzugsweise einen Fototransistor, fokussiert ist, an das eine Auswerteeinrichtung angeschlossen ist, dadurch gekennzeichnet, dass als Lichtquelle eine an sich EMI6.2 \ grierter Optik, vorgesehen ist, dass die Blende eine Spaltblende (4) ist, dass der Spalt (4') der Spaltblende (4) im wesentlichen senkrecht zu der Kontur bzw. Claims: 1. A device for detecting the contours of course, insbesonde- EMI6.1 cross-sectional area or from the delimited by the contour surface of the article partially hidden (n) light beam (s) is guided by a diaphragm (are) and the light passing through the aperture light with at least one focusing unit has at least one light sensor element preferably, a phototransistor, is focused to which an evaluation device is connected, characterized in that is provided as a light source, a grated se EMI6.2 \ optics, that the diaphragm is a slit diaphragm (4 , is that the gap (4 ') of the slit aperture (4) is substantially perpendicular to the contour or)
    Kante des zu untersuchenden Gegenstandes (7) und/oder zu der Bewegungs- richtung des Gegenstandes (7) ausgerichtet ist und dass der Laserlichtstrahl (12) insbesondere ausblendungsfrei zur und fokussierungsfrei zur bzw. durch die Spaltblende (4) geführt ist. Edge of the to be examined object (7) and / or to the direction of movement of the object (7) is aligned and that the laser light beam (12), in particular suppression freely and focusing freely and is guided by the slit aperture (4).
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserstrahlenquelle (n). 2. Device according to claim 1, characterized in that the laser beam source (s). (l), z. (L) z. B. Collimator-Pen, das Lichtsensorelement (6), EMI6.3 sind. B. collimator pen, the light sensor element (6), EMI6.3 are.
  3. 3. Einrichtungnach Anspruch 1 oder 2, mit einem Lichtweg, bei dem das Licht durch eine ausserhalb des Messkopfes (18) verlaufende Messzone (11) geführt ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Laserlichtstrahl (12) mit einem ersten Spiegel (8) in die Messzone (11) abgelenkt ist, in diese durch eine erste planparallele Platte (12) austritt, aus der Messzone (11) durch eine weitere planparallele Platte (13) wieder in den Messkopf (18) eintritt und mit einem weiteren Spiegel (9) auf die Spaltblende (4) umgelenkt ist. 3. Einrichtungnach claim 1 or 2, with an optical path in which the light is guided through an axis extending outside of the measuring head (18) measurement zone (11), characterized, in that the laser light beam (12) having a first mirror (8) in the measuring zone (11) is deflected from leaking into this through a first plane parallel plate (12), enters from the measurement zone (11) by a further plane-parallel plate (13) back into the measuring head (18) and a further mirror (9) the slit aperture (4) is deflected.
  4. 4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei die Auswerteeinrichtung zur Trennung der Nutz- und Störsignale ein insbesondere regelbares Bandpassfilter umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass das Ausgangssignal des Bandpassfilters (15) einem Spitzenwertgleichrichter (17) und/oder einem Flächenwertgleichrichter (16) zugeführt ist, deren gegebenenfalls über einen Schwellwertdetektor bzw. Komparator (19) geführte Ausgangs- <Desc/Clms Page number 7> signale vorzugsweise einer Anzeige (24) und/oder Steuerausgängen (25, 27) zugeführt sind. 4. Device according to one of claims 1 or 2, wherein the evaluation device for the separation of the desired and interference signals comprises a particular controllable band-pass filter, characterized in that the output signal of the bandpass filter (15) to a peak value rectifier (17) and / or a face value rectifier (16 is supplied), the optionally guided via a threshold detector or comparator (19) output are fed to <Desc / CLMS Page number 7> signals preferably a display (24) and / or control outputs (25, 27).
  5. 5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass bei Untersuchungen von durch die Messzone (11) durchgeführten Gegenständen- (7) der Messkopf (18) und eine Antriebs-bzw. 5. Device according to one of claims 1 to 4, characterized in that in studies of process performed by the measurement zone (11) Gegenständen- (7) of the measuring head (18) and a drive respectively. Trägereinheit für die zu untersuchenden bzw. in der Messzone (11) zu plazierenden Gegenstande (7) baulich getrennt angeordnet sind bzw. der Messkopf (18) vibrationsfrei bzw. gegenüber. Carrier unit are arranged for the to be investigated or in the measuring zone (11) structurally separated to be placed object (7) or the measuring head (18) to vibrate or opposite. dieser Antriebs- bzw. Trägereinheit stossgedämpft gelagert ist. this drive and support unit is supported shock damped.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4021119A (en) * 1975-06-24 1977-05-03 Honeywell Inc. Position gauge
DE2818789A1 (en) * 1978-04-28 1979-11-08 Wolfgang Dipl Phys Dr I Schulz Thickness measurement of cylindrical objects, wire etc. - by determining attenuation of parallel light beam passing through measurement vol. via rectangular aperture and lens
GB2058344A (en) * 1979-09-07 1981-04-08 Diffracto Ltd Electro-optical Inspection of Workpieces
DE3334976A1 (en) * 1983-09-27 1985-04-18 Hofmann Gmbh & Co Kg Maschinen Method and apparatus for determination of beruehrungslosen runout of a rotationskoerpers

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4021119A (en) * 1975-06-24 1977-05-03 Honeywell Inc. Position gauge
DE2818789A1 (en) * 1978-04-28 1979-11-08 Wolfgang Dipl Phys Dr I Schulz Thickness measurement of cylindrical objects, wire etc. - by determining attenuation of parallel light beam passing through measurement vol. via rectangular aperture and lens
GB2058344A (en) * 1979-09-07 1981-04-08 Diffracto Ltd Electro-optical Inspection of Workpieces
DE3334976A1 (en) * 1983-09-27 1985-04-18 Hofmann Gmbh & Co Kg Maschinen Method and apparatus for determination of beruehrungslosen runout of a rotationskoerpers

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